GP-L700-324K é um microscópio metalúrgico de longa distância de trabalho de nível de pesquisa 4K com 4K Ultra HD, equipado com objetivas planas acromáticas com correção infinita para longa distância de trabalho. O microscópio metalúrgico de longa distância de trabalho 4K Ultra HD oferece amplo espaço de distância de trabalho e oferece imagens planas e nítidas em todo o campo de visão com aberração cromática e campo bem corrigidos curvatura. O sistema de imagem 4K integrado captura micro-detalhes finos. A porta trinocular suporta software de análise de imagem conexão. Ideal para pesquisa metalográfica, inspeção de wafers semicondutores e fluxos de trabalho de análise de defeitos de superfície.

Este microscópio metalúrgico de longa distância de trabalho 4K Ultra HD é adequado para testes de componentes de precisão, circuitos integrados e produtos de material de embalagem.
Mecânica:Construção totalmente metálica para alta rigidez e resistência à vibração. Extra longo distância de trabalho para observação de amostras em alturas altas. Focagem grossa e fina de precisão sem folga. Resistente ao desgaste estágio mecânico XY manual. O caminho óptico trinocular mantém o alinhamento óptico ao mudar de objetiva.
Óptica:Objetivas metalúrgicas planas acromáticas com correção infinita e revestimento rígido antiembaçante. Iluminação com lâmpada halógena de 6V-30W com luz refletida.
Imagem e medição:Câmera CMOS industrial 4K de 8,3 megapixels. Saída dupla: HDMI + Gigabit-LAN porta, bom desempenho anti-interferência para uso em ambiente industrial. Suporta medição incorporada no monitor e medição de software de PC. Pré-calibrado de fábrica; os parâmetros persistem após o desligamento; não calibração diária necessária. Armazenamento de caminho duplo via disco U e software para PC. Síntese de profundidade de campo e costura de imagem disponível apenas em software para PC. Interface de desenvolvimento secundário disponível em Gigabit-LAN.
Ambiente Operacional:Temperatura de trabalho 10-35 ℃, umidade relativa 30-75% UR. Estável sob ambiente eletromagnético de fábrica regular. Evite vibrações fortes, gases corrosivos e poeira pesada.
Qualidade e Manutenção:Inspeção completa da fábrica. Não desmonte módulos ópticos. Normal a limpeza à prova de poeira prolongará a vida útil.
1. Ampliação:Alta ampliação de quatro velocidades 380-3800X para microestrutura de grãos e cavacos observação. Microscópios metalúrgicos comuns têm ampliação máxima mais baixa e imagens borradas em alta potência, e não consegue observar minúsculos grãos de metal.
2. Sistema de imagem:Câmera nativa 4K de nível de pesquisa, visualização sincronizada da ocular e do monitor. Os microscópios metalúrgicos comuns adotam uma câmera de baixa definição de grau 2K e apenas visualização por ocular.
3. Medição e armazenamento:Medição precisa integrada no monitor, captura de foto e vídeo para arquivamento de evidências de teste. Os microscópios metalúrgicos comuns não possuem medição integrada e requerem software de PC para todo o trabalho de medição e salvamento de arquivos.
4. Faixa de aplicação:Otimizado para inspeção precisa de wafers, chips semicondutores e metal grãos. Os microscópios metalúrgicos comuns são adequados apenas para observação simples de fatias de metal com baixa qualidade. desempenho para amostras com qualidade de cavacos finos.
Câmera 4K integrada na caixa trinocular para visualização simultânea via ocular e monitor. Saída de porta dupla via HDMI e Gigabit-LAN transmite micrográficos ultra nítidos em tempo real.
Caminho óptico de lente multicamadas de precisão com ampliação de quatro etapas; ampliação digital máxima de até 3800X, entregando detalhes nítidos da microestrutura em nível de mícron para inspeção de wafers, chips e grãos.
Os botões de foco coordenados e o conjunto reforçado do corpo da lente permitem um foco estável e sem vibrações, perfeitamente adequado para inspeção fina sob ampliação ultra-alta. Somente foco manual.
A base de metal quadrada espessa e superdimensionada proporciona equilíbrio de peso estável, eliminando deslocamentos ou tremores durante longo-contínuo observação de alta potência.
Corpo rígido de metal preto e branco com módulo de fonte de luz removível separado, design profissional minimalista para laboratórios e linhas de produção de semicondutores.
Otimizado para inspeção de wafers e chips; também amplamente aplicado à análise metalográfica, pesquisa de materiais avançados, trabalho de ensino acadêmico e controle de qualidade industrial de precisão.
Captura de foto e vídeo 4K, modos de medição dupla (integrado na tela + software para PC). Armazenamento duplo via disco U e computador. As funções de síntese de profundidade de campo e costura de imagem são executadas exclusivamente em software de suporte para PC. Desenvolvimento secundário suportado pela porta LAN para arquivamento de imagens, comparação e análise avançada de dados.
Semicondutores e microeletrônica (aplicação principal):
Wafers de silício, fatias de litografia, chips IC, tubos MOS, PCBs, circuitos flexíveis FPC, juntas de solda embaladas.
Alvos de inspeção: padrões de circuito de microchip, defeitos de gravação de wafer, arranhões de revestimento, bolhas de embalagem,
juntas de solda a frio, oxidação e deformação de pinos.
Amostras de metal metalográfico e ferramentas de corte de metal:
Seções metalográficas de liga, fatias de aço, ferragens metálicas estampadas com precisão.
Alvos de inspeção: estrutura de grãos metálicos, tratamento térmico-análise metalográfica, microfissuras superficiais,
lascas de ponta, rebarbas, vestígios de desgaste e impurezas de materiais internos.
Amostras de pesquisa laboratorial: cristal, pó e filme fino:
Monocristais/policristais, pó metálico, pó químico, filmes de revestimento óptico, materiais de filme ultrafinos.
Observe redes de microcristais, morfologia de partículas ultrafinas, delaminação de filme e texturas de microrrevestimento.
Componentes optoeletrônicos de plástico de precisão:
Chips de LED, lentes de vidro óptico, cola para embalagens de semicondutores.
Detecte microporos, nanoarranhões, delaminação de cola, bolhas e irregularidades sutis na superfície.
Componentes de precisão em miniatura:
Conectores, terminais, micromolas, pequenas peças estampadas com precisão.
Medição precisa em nível de pixel 4K para lacunas, diâmetros de furos, diferenças de inclinação e altura de superfície; observe sutil
deformação por crimpagem.
Laboratórios universitários e controle de qualidade de semicondutores de última geração:
Experimentos de pesquisa de materiais, análise de ensino de metalurgia, inspeção de amostragem de wafers de entrada e de produtos acabados;
arquivamento de foto-vídeo, exporte relatórios de controle de qualidade de medição precisa via PC.
Equipado com imagens ultra-HD nativas de 3840*2160 4K. Adequado para inspeção metalográfica de wafer e análise de materiais metálicos; mostra claramente limites de grãos, microarranhões e pequenos microdefeitos.
O design com foco manual se adapta a amostras de pesquisa de laboratório e pesquisa de material universitário. Ajuste fino uniforme e estável suporta observação de amostra estática de longo prazo.
Fonte de luz coaxial dividida independente para wafers semicondutores, amostras de metal e fatias precisas de PCB. Verticais a iluminação coaxial suprime o brilho reflexivo do metal e restaura texturas metalográficas reais.
Faixa de ampliação dupla: ampliação óptica de 50-500X, ampliação digital de 380-3800X. Abrange tanto a amostra completa visão geral e inspeção de microgrãos/microdefeitos.
Suporta medição integrada no dispositivo e medição de software de PC. Equipado com saída dupla HDMI e Gigabit-LAN portos. Fotos, vídeos e dados de medição podem ser salvos através de um disco U compatível ou de um computador. Desenvolvimento secundário suportado para integração de linha de produção e rastreabilidade de dados de laboratório.
Envio com embalagem neutra está disponível mediante solicitação.
| Item | Descrição |
| Modelo de produto | Microscópio metalúrgico de longa distância de trabalho GP-L700-324K com 4K Ultra HD |
| Categoria de produto | Microscópio metalúrgico vertical de alto nível de pesquisa com iluminação vertical dividida Luz Fonte |
| Tecnologias principais | Sistema óptico trinocular de visualização síncrona, módulo de fonte de luz vertical coaxial independente dividido, conjunto de lentes objetivas metalúrgicas de alta resolução, sensor de imagem CMOS ultra-HD 4K, sistema de medição dupla (medição precisa integrada no dispositivo + medição de software de PC), sinal de canal duplo HDMI + Gigabit-LAN transmissão, solução de armazenamento duplo, arquitetura aberta que suporta acoplamento de desenvolvimento secundário |
| Especificações principais | Ampliação óptica: 50/100/200/500×; Ampliação eletrônica: 380/760/1520/3800×; Saída dupla interfaces: porta HDMI + Gigabit-LAN; Resolução de captura 4K: 3840×2160; Modo de foco: Focagem manual; Modos de medição dupla: medição precisa integrada + medição dedicada por software de PC; Armazenamento duplo modos: armazenamento local em disco U + armazenamento de software para PC; Monitore as funções do terminal: Medição dimensional, alta definição visualização de imagens, arquivamento de fotos; Funções do terminal PC: Medição dimensional, armazenamento de fotos; Observação: Suporta integração de desenvolvimento secundário. |
| Cenários típicos de aplicação | Observação de grãos de wafer e chip, inspeção de defeitos de embalagens de semicondutores, grãos de metal análise de estrutura metalográfica, detecção de pequenas falhas de circuito de precisão, falha de componente eletrônico análise, pesquisa científica de laboratório de novos materiais |
| Fabricante | Instrumento de precisão Kunshan Gaopin Co., Ltd. |
| Endereço de fábrica | Cidade de Kunshan, província de Jiangsu, China (adjacente a Xangai) |
| Modelo | GP-L700-324K |
| Resolução | 3840×2160 |
| Pixels realmente eficazes | 8,3 megapixels |
| Método de Focagem | Foco manual |
| Formato Óptico | 1/1,7" |
| Tamanho dos pixels | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Método de saída | Porta LAN HDMI + Gigabit Ethernet |
| Introduções funcionais detalhadas correspondentes a cada interface de saída | ① HDMI se conecta a monitores compatíveis com 4K. Firmware de processamento de imagem profissional incorporado suporta
gravação de fotos, gravação de vídeo, medição dimensional, reprodução de imagens e comparação de imagens, operadas
pelo mouse em tempo real. ② A porta LAN Gigabit conecta-se a roteadores, switches ou computadores para rede imagem transmissão. Computadores dentro do mesmo segmento de rede podem receber vídeo em tempo real e acionar captura através de software correspondente. |
| Taxa de quadros | HDMI: 60 fps a 3840×2160 LAN Gigabit: 20 fps a 1920×1080 |
| Síntese de profundidade de campo | / |
| Costura de imagem | / |
| Método de medição | Sistema de medição integrado no monitor + medição por software para PC |
| Precisão de medição | 0,001mm |
| Unidades de medição | mm / μm / mil / polegada (4 unidades comutáveis) |
| Ferramentas de medição | Comprimento, ângulo, radiano, círculo, polígono, polilinha, distância centro a centro, retângulo, anotação adicionando, detecção automática de bordas, barra de escala e muito mais |
| Método de armazenamento | Armazenamento em disco U + armazenamento de software para PC |
| Idioma de exibição | Chinês simplificado/inglês (alternável) |
| Processador | ARM Cortex-A17 Quad-Core @ máx. Processador de controle principal de 1,4 GHz |
| Sistema operacional | Firmware de medição desenvolvido de forma independente baseado no kernel Linux 3.1 |
| Nomenclatura de imagens | Nomeação automática ou manual disponível |
| Cabeça de visualização | Cabeça trinocular tipo dobradiça inclinada em 30°; faixa de ajuste interpupilar: 53-75 mm |
| Modos de observação | Campo claro/iluminação oblíqua/polarização simples |
| Sistema de iluminação | Sistema de iluminação com luz descendente, entrada de ampla tensão de 100-240V, centro de filamento ajustável, intensidade de luz continuamente ajustável. |
| Ficar | ① Rack tipo tiro, mecanismo de foco coaxial grosso-fino com dispositivos de travamento e limitação;
valor de graduação de movimento fino: 2 μm. Iluminação por luz refletida com lâmpada halógena. ② Campo claro refletor com parada de abertura variável, parada de campo e unidade de comutação de filtro de cor. ③ Amarelo, azul, filtros verdes e folha de vidro fosco fornecidos para o caminho óptico da luz refletida. |
| Estágio Mecânico | Dimensão básica: 300 mm × 240 mm; Dimensão do palco: 185 mm × 140 mm; Curso XY: 35 mm × 30 mm. Adequado para observando peças de trabalho de altura relativamente alta. |
| Fonte de luz | Câmara de lâmpada halógena 6V 30W (somente luz refletida). |
| Função de polarização simples | Polarizador e analisador tipo push-pull instalados |
| Interface Eletrônica | Interface de câmera de montagem C 1X, foco não ajustável; CTV 0,5X é opcional com diferença de preço compensação. |
| Oculares | Duas oculares de campo plano grande angular WF10X/22 mm com ajuste de dioptria individual |
| Porta-objetivas | ★ Porta-objetivas de cinco furos Mingchang |
| Objetivos Metalúrgicos | ★ Objetivas metalúrgicas plano-acromáticas com correção infinita ① PL L5X/0,12, Distância de trabalho: 26,1 mm × 1 unidade ② PL L10X/0,25, Distância de trabalho: 20,2 mm × 1 unidade ③ PL L20X/0,40, Distância de trabalho: 8,80 mm × 1 unidade ④ PL L50X/0,70, Distância de trabalho: 3,68 mm × 1 unidade ⑤ PL L100X/0,85, Distância de trabalho: 0,40 mm (opcional, não incluído no pacote padrão) |
| Ampliação óptica | 50X, 100X, 200X, 500X (comutável em quatro níveis) |
| Ampliação Eletrônica | Aprox. 380X, 760X, 1520X, 3800X (comutável em quatro níveis); faixa de ampliação opcional: 190-1900X. |
Isenção de responsabilidade:Logotipos e nomes de empresas, universidades e instituições de pesquisa que aparecem em apenas este site indicam que tais entidades adquiriram ou utilizaram microscópios da marca GAOPIN. A sua aparência não será interpretado como compra deste modelo exato de produto e não implicará qualquer endosso comercial, co-branding, afiliação ou parceria de projeto conjunto com essas organizações terceirizadas.
Os microscópios GAOPIN são usados por empresas líderes, institutos de pesquisa e universidades. Nossa colaboração relacionamentos incluem:
Huawei Electronics – Inspeção de material de entrada e controle de qualidade de linha de produção para componentes eletrônicos
Zhejiang Maitong Intelligent Manufacturing Technology Co., Ltd. - Inspeção dimensional microscópica para peças usinadas com precisão automatizada
NIO Shanghai – Inspeção de precisão para peças automotivas e chicotes elétricos de energia nova
Universidade de Tsinghua – Ensino, imagens de laboratório e arquivamento de dados experimentais
Dabo Medical – Análise micromorfológica de dispositivos médicos de implantes e biomateriais
Universidade Fudan - Micro-nano-materiais e pesquisa biomédica de observação microscópica
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. foi oficialmente fundada em 2011. Nossa equipe fundadora acumulou riqueza experiência na indústria de instrumentos de inspeção óptica começando em 2005. Oferecemos serviços de ciclo completo cobrindo design de produto, P&D interno, vendas globais e serviços abrangentes de manutenção pós-venda. Nosso A equipe de engenharia qualificada tem mais de dez anos de experiência no desenvolvimento de instrumentos ópticos para garantir desempenho técnico estável e qualidade de produto confiável.
GAOPIN fornece mais de cem categorias de instrumentos de teste óptico servindo clientes industriais e de laboratório em todo o mundo. Desenvolvemos soluções de microscopia personalizadas, flexíveis e econômicas para controle de qualidade industrial diversificado e projetos-análise-laboratorial.
Para compradores estrangeiros, oferecemos suporte técnico mundial responsivo, incluindo consultas on-line remotas, prático- tutoriais em vídeo e treinamento de operação de equipamentos remotos ao vivo. Nossa unidade de produção está localizada em Kunshan, Jiangsu Província (perto de Xangai). Visitas à fábrica no local e passeios virtuais on-line são bem-vindos. Entre em contato com nosso equipe de vendas para fotos de testes de amostras autênticas capturadas por este microscópio metalúrgico de longa distância de trabalho com 4K Ultra HD para avaliar o desempenho de imagem real.
A1: Equipado com interfaces duplas de saída HDMI de alta definição e porta LAN. Ele suporta imagens em tempo real por conectando diretamente a um monitor e conexão ao computador via cabo de rede. Sem interfaces USB e WIFI, ele suporta ambos operação independente e trabalho colaborativo por computador.
A2: Ele suporta gravação de fotos e vídeos 4K ultra-HD e armazena arquivos via disco U FAT32 (dentro de 32G). Ele suporta dupla medição precisa na tela e no software de PC, incluindo marcação de dimensões, economia de dados e relatório de medição-exportação funções, atendendo aos requisitos precisos de detecção e arquivamento.
A3: Verifique a fonte de alimentação do dispositivo e o adaptador correspondente, aperte o cabo HDMI firmemente, mude o monitor para HDMI correspondente canal de sinal, reinicie o dispositivo para corrigir problemas de tela preta e sem imagem.
A4: Adotando um design de foco manual de alta precisão, ajuste lentamente o volante de foco para obter imagens nítidas. Bloquear lente objetiva firmemente, coloque a amostra plana e limpe regularmente poeira e manchas nas lentes com ferramentas profissionais para garantir clareza e imagem precisa.
A5: Certifique-se de que o dispositivo e o computador estejam configurados para o mesmo segmento IP, desligue o firewall do computador e o software de interceptação, reconecte o cabo de rede com firmeza, reinicie o dispositivo e o software de medição de suporte para conexão normal.
A6: O dispositivo suporta apenas discos U FAT32 dentro de 32G e não suporta discos U NTFS e exFAT de grande capacidade. Para falha de reconhecimento, reconecte ou formate o disco U ou substitua por disco U compatível para armazenamento de arquivo normal.
Endereço
Edifício 2, Centro Internacional de Negócios Shuanglian, cidade de Huaqiao, cidade de Kunshan, China
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