O microscópio metalúrgico GP-L600-324K 4K Ultra HD para inspeção de wafer é um microscópio metalúrgico de inspeção de wafer de nível de pesquisa com 4K Ultra HD. Ele adota um sistema óptico com correção infinita, com um módulo Nomarski DIC opcional para detectar altura de superfície em nanoescala variações. O instrumento suporta observação de campo claro e luz polarizada. A porta trinocular facilita instalação de câmeras e conexão com software de análise metalúrgica. É adequado para fluxos de trabalho, incluindo pesquisa metalográfica, inspeção de semicondutores e análise de falhas de materiais.
Este microscópio metalúrgico 4K Ultra HD para inspeção de wafer é adequado para observação microscópica de microestruturas metalográficas e morfologia de superfície. Isso serve como uma ferramenta de pesquisa ideal para disciplinas de metalurgia, mineralogia e engenharia de precisão.
| Item | Descrição |
| Produto | Microscópio metalúrgico de inspeção de wafer GP-L600-324K com 4K Ultra HD |
| Categoria | Microscópio metalúrgico trinocular de nível de pesquisa de laboratório, compatível com interferência diferencial DIC, observação de campo claro / campo escuro / luz polarizada |
| Tecnologias principais | Sistema óptico trinocular de visualização síncrona, iluminação integrada multimodo (campo claro, campo escuro, polarizador, DIC de contraste de interferência diferencial), profissional de alta precisão metalúrgico conjunto de lentes objetivas, sensor de imagem CMOS ultra-HD 4K, sistema de medição dupla (integrado no monitor medição + medição de software de PC), transmissão de sinal de canal duplo HDMI + Gigabit-LAN, armazenamento duplo tecnologia, arquitetura aberta que apoia o acesso ao desenvolvimento secundário |
| Especificações principais | Ampliação visual: 50/100/200/500×; Ampliação eletrônica: 190/380/760/1900×; Saída dupla interfaces: porta HDMI + Gigabit-LAN; Resolução de captura 4K: 3840×2160; Somente foco manual; Medição dupla modos: medição precisa integrada + medição de software de PC correspondente; Modos de armazenamento duplo: disco U armazenamento + armazenamento de software de computador; Terminal de monitor: medição de dimensões, visualização de imagens HD, arquivamento de fotos; Terminal de PC: medição de dimensões, armazenamento de fotos; A unidade inteira suporta acoplamento de desenvolvimento secundário. |
| Aplicações Típicas | Análise de falha de wafer de semicondutor, inspeção metalográfica de material metálico, revestimento de filme fino observação de microestrutura, teste de pacote de semicondutores de precisão, laboratório de materiais avançados pesquisa, observação de biomateriais médicos, detecção de microdefeitos para componentes eletrônicos |
| Fabricante | Instrumento de precisão Kunshan Gaopin Co., Ltd. |
| Localização do fabricante | Kunshan, Jiangsu, China (adjacente a Xangai) |
Câmera 4K integrada na caixa trinocular para visualização simultânea via ocular e monitor. Saída de porta dupla via HDMI e Gigabit-LAN transmite microimagens ultra-HD em tempo real.
Suporta observação DIC, campo claro, campo escuro e luz polarizada. Ampliação em 4 etapas, óptica 50-500X, máx. digitais ampliação de até 1900X, fornecendo detalhes nítidos para inspeção de micro-recursos.
Botões de foco coaxiais duplos combinados com conjunto de corpo de lente reforçado permitem foco estável e minimizam a imagem tremendo.
O suporte de metal espesso e integrado e o suporte do palco abaixam o centro de gravidade, mantendo o microscópio estável durante inspeção de nível de pesquisa de longas horas.
Layout óptico modular com corpo de metal rígido, adequado para laboratórios, institutos de pesquisa e semicondutores instalações de fabricação.
Otimizado para inspeção de wafers e chips; também amplamente aplicado para testes de semicondutores, análise metalográfica, trabalho de pesquisa de materiais e avaliação de qualidade de precisão.
Captura de foto e vídeo 4K, modos de medição dupla (integrado na tela + software para PC). Armazenamento duplo via disco U e computador. As funções de síntese de profundidade de campo e costura de imagem são executadas exclusivamente em software de suporte para PC. O desenvolvimento secundário é suportado pela porta LAN para arquivamento de imagens, comparação e análise avançada.
1. Modos de observação óptica:Suporta óptica multimodo, incluindo DIC, campo claro e campo escuro e luz polarizada para observação de textura de cristal e revestimento. Os microscópios metalúrgicos comuns fornecem apenas campo claro básico e não consegue visualizar camadas ultrafinas e microestruturas cristalinas.
2. Sistema de imagem:Câmera ultra-HD 4K nativa, visualização sincronizada da ocular e do monitor. Comum microscópios metalúrgicos adotam câmera 2K de baixa definição, apenas visualização ocular com alta ampliação distorcida saída.
3. Ajuste de ampliação:Faixa de ampliação de quatro marchas de 190-1900X, cobrindo visão macro e inspeção de micro detalhes. Os microscópios metalúrgicos comuns têm menos engrenagens de ampliação e imagens borradas em alta potência.
4. Medição e Registro:Medição precisa integrada no monitor com gravação de foto e vídeo capacidade. Microscópios metalúrgicos comuns não possuem medição integrada e requerem software de PC para todas as análises e arquivamento.
Semicondutores e microeletrônica (aplicação Core DIC):
Wafers de silício, fatias de litografia, chips IC, PCBs, circuitos flexíveis FPC, juntas de solda, componentes de embalagem.
Alvos de inspeção: topografia da superfície do chip, padrões de gravação de wafer, nano-riscos, juntas de solda a frio,
oxidação e deformação do pino. Contraste de interferência diferencial (DIC) destaca diferenças sutis de altura de superfície
para observação de fatias de microcircuitos na faixa de ampliação de 190-1900×.
Amostras Metalográficas de Metal:
Seções metalográficas de liga, aço, ferragens metálicas estampadas com precisão.
Alvos de inspeção: estrutura de grãos metálicos, análise de tratamento térmico, microfissuras superficiais, lascas de bordas, rebarbas finas,
vestígios de desgaste e impurezas materiais internas. Modos de campo claro/campo escuro/luz polarizada para cristal metálico
observação da estrutura.
Amostras de Laboratório: Cristal, Pó, Fibra e Filme Fino:
Cristais químicos, pó metálico, fibra de carbono, filmes de revestimento óptico.
Observe a morfologia do cristal, os contornos das partículas, a delaminação do filme e as texturas do microrrevestimento; luz polarizada
identifica características de polarização do cristal.
Componentes optoeletrônicos e plásticos de precisão:
Chips de LED, lentes ópticas, substratos de vidro, cola para embalagens de semicondutores.
Detecte microporos, nanoarranhões, delaminação de cola, bolhas, manchas e irregularidades superficiais sutis.
Componentes em miniatura de alta precisão:
Conectores, terminais, micromolas, pequenas peças estampadas.
Medição precisa em nível de pixel 4K para lacunas, diâmetros de furos, diferenças de inclinação e altura de superfície; DIC visualiza
deformação sutil por crimpagem.
Laboratórios universitários e controle de qualidade de semicondutores de última geração:
Experimentos de pesquisa de materiais, inspeção de entrada de mercadorias de wafers, observação de amostras metalográficas; foto-vídeo
arquivar, exportar relatórios de controle de qualidade de medição precisa por meio de um PC conectado.
Mecânica:Construção totalmente metálica para alta rigidez e resistência à vibração. Precisão focagem grossa-fina sem folga. Estágio mecânico XY manual de alta precisão com baixo desgaste e mínimo liberação. O caminho óptico trinocular mantém o alinhamento óptico ao mudar de objetiva.
Óptica:Objetivas metalúrgicas planas acromáticas com correção infinita e revestimento rígido antiembaçante. Iluminação com lâmpada halógena de 12V-100W refletida transmitida.
Imagem e medição:Câmera CMOS industrial 4K de 8,3 megapixels. Saída dupla: HDMI + Gigabit-LAN porta, bom desempenho anti-interferência para uso em ambiente industrial. Suporta medição incorporada no monitor e medição de software de PC. Armazenamento de caminho duplo via disco U e software para PC. Síntese de profundidade de campo e costura de imagem disponível apenas em software para PC. Interface de desenvolvimento secundário disponível em Gigabit-LAN.
Equipado com imagens nativas de 3840*2160 4K. Adequado para análise metalográfica, inspeção de circuitos de chips e geração profissional de relatórios de teste, revelando claramente grãos metálicos, micro-arranhões e pequenos micro-defeitos.
Design com foco manual, adequado para amostras estáticas de laboratório e substituição de peças de baixa frequência. Estável ajuste fino botões para observação precisa de amostras estáticas a longo prazo.
Estágio móvel manual padrão e caminho óptico metalúrgico trinocular vertical para fatias de chips, tamanho pequeno e médio PCB e amostras de metal, suprimindo efetivamente o brilho reflexivo para inspeção metalográfica.
Faixa de ampliação dupla: ampliação óptica de 50-500X, ampliação digital de 190-1900X. Abrange tanto a amostra completa visão geral e inspeção de microgrãos/microdefeitos.
Suporta medição integrada no dispositivo e medição de software de PC. Equipado com porta HDMI + Gigabit-LAN. Fotos, vídeos e dados de medição podem ser salvos por meio de disco U compatível ou computador. Desenvolvimento secundário apoiado para integração da linha de produção e rastreabilidade de dados de laboratório.
Envio com embalagem neutra está disponível mediante solicitação.
| Modelo | GP-L600-324K |
| Resolução | 3840×2160 |
| Pixels realmente eficazes | 8.300.000 pixels |
| Método de Focagem | Foco manual |
| Formato Óptico | 1/1,7" |
| Tamanho dos pixels | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Método de saída | Porta LAN HDMI + Gigabit Ethernet |
| Introduções funcionais detalhadas correspondentes a cada interface de saída | ① HDMI se conecta a monitores compatíveis com 4K. Firmware de processamento de imagem profissional incorporado suporta
gravação de fotos, gravação de vídeo, medição dimensional, reprodução de imagens e comparação de imagens, operadas
pelo mouse em tempo real. ② A porta LAN Gigabit conecta-se a roteadores, switches ou computadores para rede imagem transmissão. Computadores dentro do mesmo segmento de rede podem receber vídeo em tempo real e acionar captura através de software correspondente. |
| Taxa de quadros | HDMI: 60 fps a 3840×2160 LAN Gigabit: 20 fps a 1920×1080 |
| Síntese de profundidade de campo | / |
| Costura de imagem | / |
| Método de medição | Sistema de medição integrado no monitor + medição por software para PC |
| Precisão de medição | 0,001mm |
| Unidades de medição | mm / μm / mil / polegada (4 unidades comutáveis) |
| Ferramentas de medição | Comprimento, ângulo, radiano, círculo, polígono, polilinha, distância centro a centro, retângulo, anotação adicionando, detecção automática de bordas, barra de escala e muito mais |
| Método de armazenamento | Armazenamento em disco U + armazenamento de software para PC |
| Idioma de exibição | Chinês simplificado/inglês (alternável) |
| Processador | Processador de controle principal ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz |
| Sistema operacional | Firmware de medição desenvolvido de forma independente baseado no kernel Linux 3.1 |
| Nomenclatura de imagens | Nomeação automática ou manual disponível |
| Cabeça de visualização | Cabeça trinocular tipo dobradiça inclinada em 30°; faixa de ajuste interpupilar: 54-76 mm; divisão de dois feixes proporções: 100:0, 0:100 |
| Modos de observação | ★ Campo claro / Campo escuro / Luz polarizada / DIC (o hardware DIC é opcional) |
| Sistema de iluminação | Sistema de iluminação por luz descendente refletida transmitida, entrada de ampla tensão de 100-240 V, ajustável filamento centro, intensidade de luz continuamente ajustável. |
| Ficar | ① Rack refletido transmitido de dupla finalidade; mecanismo de foco coaxial grosso-fino de posição baixa.
Curso de ajuste grosseiro: 33 mm; precisão de ajuste fino: 0,001 mm. Equipado com bloqueio e limitação
dispositivos. ② Refletor de campo claro e campo escuro com parada de abertura variável, parada de campo e conjunto de centro ajustável. ③ Filtro de interferência e placa de equilíbrio de cores (luz branca) para caminho óptico da luz refletida. ④ Dispositivo de comutação de campo claro-escuro; slots para filtros de cores e acessórios polarizadores. |
| Estágio Mecânico | Estágio mecânico manual de 4 polegadas. Dimensão do palco: 230 mm × 215 mm; Curso XY: 105 mm × 105 mm. Vidro placa porta-espécime para observação transmitida e refletida. |
| Fonte de luz | Câmara de lâmpada halógena 12V 100W (luz refletida); Lâmpada halógena 12V 100W (luz transmitida). |
| Função de polarização | Soquete polarizador de 30 graus (luz refletida); Soquete de analisador giratório de 360° para luz polarizada observação. |
| Oculares | Duas oculares de campo plano grande angular PL10X/22 mm com dioptria ajustável (uma ocular com retículo escala). |
| Porta-objetivas | ★ Porta-objetivas objetiva de cinco furos com campo claro e escuro |
| Função DIC | Função de contraste de interferência diferencial; Os acessórios da placa de inserção DIC são opcionais e não incluídos em configuração padrão. |
| Interface Eletrônica | Interface de câmera de montagem C 0,5X, foco ajustável; O CTV 1X é opcional com compensação por diferença de preço. |
| Objetivos Metalúrgicos | ★ Objetivos metalúrgicos semidestrutivos de campo claro e escuro ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0,15, funcionando Distância: 9,00 mm × 1 unidade ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, Distância de trabalho: 9,00 mm × 1 unidade ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0,45, Distância de trabalho: 3,40 mm × 1 unidade ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, Distância de trabalho: 7,50 mm × 1 unidade ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, Distância de trabalho: 2,10 mm (opcional, não incluído no pacote padrão) |
| Ampliação óptica | 50X, 100X, 200X, 500X (comutável em quatro níveis) |
| Ampliação Eletrônica | Aprox. 190X, 380X, 760X, 1900X (comutável em quatro níveis); faixa de ampliação opcional: 380-3800X. |
Os microscópios GAOPIN são usados por empresas líderes, institutos de pesquisa e universidades. Nossa colaboração relacionamentos incluem:
Universidade de Comércio de Tianjin - Ensino de laboratório de materiais, microimagem e arquivamento de dados experimentais
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. - Detecção dimensional e de micro-falhas para usinagem de precisão peças
AVIC Optronics Technology Co., Ltd. - Conector de precisão e inspeção de componentes
Instituto de Óptica e Mecânica Fina de Xangai, CAS – Pesquisa óptica avançada e caracterização de componentes ópticos
Universidade Xi'an Jiaotong - Ciência avançada de materiais e observação experimental de óptica de precisão
Instituto de Cerâmica de Xangai, CAS - Microanálise de cerâmicas inorgânicas e materiais de novas energias
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. foi oficialmente fundada em 2011. Nossa equipe fundadora acumulou profundamente enraizado experiência em instrumentação de inspeção óptica desde 2005. Somos uma empresa focada em tecnologia entregando serviços de ciclo completo abrangendo design, pesquisa e desenvolvimento, vendas globais e suporte pós-venda para microscópios industriais. Nosso núcleo A equipe de engenharia possui mais de dez anos de experiência especializada em desenvolvimento de instrumentos ópticos para garantir tecnologia comprovadamente estável e qualidade consistente e confiável.
A GAOPIN mantém um extenso catálogo de produtos com mais de cem modelos de instrumentos ópticos para todo o mundo. clientes. Desenvolvemos soluções de microscopia personalizadas, flexíveis e econômicas para diversas inspeções industriais e requisitos de pesquisa laboratorial.
Suporte técnico global de resposta rápida está disponível para clientes no exterior, incluindo reuniões on-line, orientação passo a passo em vídeo e sessões de treinamento remoto. Nossa base de produção está localizada em Kunshan, Jiangsu Província (perto de Xangai). Visitas à fábrica no local e passeios virtuais on-line são bem-vindos. Entre em contato com nossa equipe de vendas para imagens autênticas de teste de amostra capturadas por este microscópio metalúrgico de inspeção de wafer com 4K Ultra HD para avaliar desempenho de imagem do mundo real.
A1: Equipado com interfaces duplas de saída HDMI de alta definição e porta LAN. Ele suporta imagens em tempo real por conexão direta a um monitor e conexão ao computador via cabo de rede. Sem interfaces USB e WIFI, ele suporta operação independente e trabalho colaborativo por computador.
A2: Suporta gravação de fotos e vídeos 4K ultra-HD. Os arquivos podem ser salvos em disco U formatado em FAT32 dentro de 32 GB capacidade ou armazenamento do computador. Suporta medições precisas na tela e no software do PC, com economia de dados e funções de exportação de relatório.
A3: Verifique a fonte de alimentação e o adaptador correspondente; aperte o cabo HDMI firmemente; mude o monitor para corrigir a fonte do sinal HDMI; reinicie o dispositivo para resolver falhas de tela preta e sem imagem.
A4: Este é um modelo de foco manual. Ajuste lentamente o volante de foco para obter imagens nítidas. Trave a lente objetiva com firmeza, coloque faça uma amostra plana e limpe regularmente a poeira e manchas da lente.
A5: Certifique-se de que o microscópio e o PC estejam dentro do mesmo segmento IP; desabilitar firewall e software de interceptação; recolocar cabo de rede; reinicie o dispositivo e suporte ao software de medição para estabelecer a conexão normal.
Endereço
Edifício 2, Centro Internacional de Negócios Shuanglian, cidade de Huaqiao, cidade de Kunshan, China
Tel
