GP-L600-462H é um microscópio metalúrgico com foco automático 4K Ultra HD para inspeção de wafers. Adota sistema óptico com correção infinita para alternância rápida entre os modos de observação de campo claro e campo escuro. O campo claro é usado para observação rotineira de microestrutura metalográfica; O campo escuro oferece contraste aprimorado para pequenos defeitos superficiais, arranhões e impurezas de partículas. A porta trinocular suporta instalação de câmera e conexão metalúrgica-análise-software. Adequado para pesquisa metalográfica, inspeção de semicondutores e fluxos de trabalho de detecção de defeitos na superfície da peça.
Este instrumento é adequado para observação microscópica de microestruturas metalográficas e morfologia de superfície. Isso serve como uma ferramenta de pesquisa ideal para disciplinas de metalurgia, mineralogia e engenharia de precisão.
Câmera 4K integrada na caixa trinocular para visualização simultânea via ocular e monitor. Saída multiporta via HDMI, USB3.0 e WIFI transmitem microimagens ultra-HD em tempo real.
Suporta observação DIC, campo claro, campo escuro e luz polarizada. Ampliação em 4 etapas, óptica 50-500X, máx. digitais ampliação de até 1900X, fornecendo detalhes nítidos para inspeção de micro-recursos.
Módulo de foco automático de hardware integrado, modo de foco manual também está disponível. Realiza focagem suave e sem vibrações e melhora a eficiência para testes de amostras em massa.
Suporte de metal espesso integrado e suporte de palco com baixo centro de gravidade, mantendo desempenho estável para longa duração observação laboratorial.
Layout óptico modular com estrutura metálica rígida, adequado para laboratórios, institutos de pesquisa e semicondutor instalações de fabricação.
Ideal para inspeção de wafers e chips; também amplamente aplicado para testes de semicondutores, análise metalográfica, trabalho de pesquisa de materiais e avaliação de qualidade de precisão.
Captura de foto e vídeo 4K, modos de medição dupla (integrado na tela + software para PC). Armazenamento duplo via disco U e computador. A síntese de profundidade de campo funciona tanto no monitor quanto no software de PC; A função de costura de imagem está disponível apenas em Software para PC. Desenvolvimento secundário com suporte para arquivamento de imagens, comparação e análise avançada.
1. Modos de observação óptica:Suporta óptica multimodo, incluindo DIC, campo claro e campo escuro e luz polarizada para observação de cristais e texturas de revestimento. Os microscópios metalúrgicos comuns fornecem apenas campo claro básico e não consegue visualizar camadas ultrafinas e microestruturas cristalinas.
2. Sistema de imagem:Câmera ultra-HD 4K nativa, visualização sincronizada da ocular e do monitor. Comum microscópios metalúrgicos fornecem imagens 2K de baixa definição e apenas visualização ocular, com imagens borradas e distorcidas sob alta ampliação.
3. Ajuste de ampliação:Zoom de quatro velocidades 190-1900X, abrangendo visão geral macro e micro detalhes inspeção. Os microscópios metalúrgicos comuns têm menos engrenagens de ampliação e imagens borradas sob alta potência.
4. Medição e Registro:Medição precisa integrada no monitor com captura de foto e vídeo função. Microscópios metalúrgicos comuns não possuem medição integrada e requerem software de PC para todos trabalho de medição e arquivamento.
Mecânica:Construção totalmente metálica para alta rigidez e resistência à vibração. Foco automático de hardware equipado com módulo, o foco manual também está disponível. Focagem grossa e fina de precisão sem folga. Alta precisão estágio mecânico XY manual com baixo desgaste e folga mínima. O caminho óptico trinocular mantém óptico co-alinhamento durante a mudança de ampliação.
Óptica:Objetivas metalúrgicas planas acromáticas com correção infinita e revestimento rígido antiembaçante. Iluminação com lâmpada halógena de 12V-100W refletida transmitida.
Imagem e medição:Câmera CMOS industrial 4K. Multi-saída: HDMI + USB3.0 + WIFI, bom desempenho anti-interferência para uso em ambiente industrial. Suporta medição incorporada no monitor e Medição de software para PC. Armazenamento de caminho duplo via disco U e software para PC. A síntese de profundidade de campo funciona tanto software no monitor e no PC; costura de imagem suportada exclusivamente por software para PC. Interface de desenvolvimento secundário disponível via USB3.0 / WIFI.
Ambiente Operacional:Temperatura de trabalho 10-35 ℃, umidade relativa 30-75% UR. Estável sob condições normais ambiente eletromagnético de fábrica. Evite vibrações fortes, gases corrosivos e poeira pesada. Mantenha o módulo WIFI longe de fontes fortes de interferência de sinal.
Qualidade e Manutenção:Inspeção completa da fábrica. Não desmonte módulos ópticos ou módulo de foco automático. A limpeza regular à prova de poeira prolongará a vida útil.
Semicondutores e microeletrônica (aplicação Core DIC):
Wafers de silício, fatias de litografia, chips IC, PCBs, circuitos flexíveis FPC, juntas de solda, componentes de embalagem.
Alvos de inspeção: topografia da superfície do chip, padrões de gravação de wafer, nano-riscos, juntas de solda a frio,
oxidação e deformação do pino. Contraste de interferência diferencial (DIC) destaca diferenças sutis de altura de superfície
para observação de fatias de microcircuitos na faixa de ampliação de 190-1900×.
Amostras Metalográficas de Metal:
Seções metalográficas de liga, ferragens metálicas estampadas com precisão.
Alvos de inspeção: estrutura de grãos metálicos, análise de tratamento térmico, trincas micro-superficiais, lascamento de bordas, rebarbas finas,
vestígios de desgaste e impurezas do material interno. Modos de campo claro/campo escuro/luz polarizada disponíveis para
observação da estrutura metal-cristalina.
Amostras de pesquisa de laboratório: cristal, pó, fibra e filme fino:
Cristais químicos, pó metálico, fibra de carbono, fibra têxtil, filmes de revestimento óptico.
Observe a morfologia do cristal, os contornos das partículas, a delaminação do filme e as texturas do microrrevestimento; luz polarizada
identifica características de polarização do cristal.
Componentes optoeletrônicos de plástico de precisão:
Chips de LED, lentes ópticas, substratos de vidro, cola para embalagens de semicondutores.
Detecte microporos, nanoarranhões, delaminação de cola, bolhas e irregularidades superficiais sutis.
Componentes em miniatura de alta precisão:
Conectores, terminais, micromolas, pequenas peças estampadas.
Medição precisa em nível de pixel 4K para lacunas, diâmetros de furos, diferenças de inclinação e altura de superfície; DIC visualiza
deformação sutil por crimpagem.
Laboratórios universitários e controle de qualidade de semicondutores de última geração:
Experimentos de pesquisa de materiais, inspeção de entrada de mercadorias de wafers, observação de amostras metalográficas; foto-vídeo
arquivamento, exporte relatórios de medição precisas via PC.
Equipado com imagens 4K nativas compatíveis com 3840*1080. Adequado para análise metalográfica, inspeção de circuitos de chips e geração de relatório de teste profissional; exibe claramente grãos de metal, microarranhões e pequenos microdefeitos.
Equipado com foco automático de hardware, adequado para inspeção de produção em massa e substituição frequente de amostras. Alcança rápido focando após o movimento da amostra sem ajustes manuais repetidos para melhorar a eficiência do teste. O modo de foco manual também é disponível para observação de amostra estática.
Estágio móvel manual padrão e caminho óptico metalúrgico trinocular vertical para fatias de chips, tamanho pequeno e médio PCB e amostras de metal, suprimindo efetivamente o brilho reflexivo para inspeção metalográfica. Estágio XY motorizado pode ser selecionado como atualização opcional.
Faixa de ampliação dupla: ampliação óptica de 50-500X, ampliação digital de 190-1900X. Abrange tanto a amostra completa visão geral e inspeção de microgrãos/microdefeitos.
Suporta medição integrada no dispositivo e medição de software de PC. Equipado com saída HDMI, USB3.0 e WIFI portos. Fotos, vídeos e dados de medição podem ser salvos via disco U ou computador. Desenvolvimento secundário apoiado para integração da linha de produção e rastreabilidade de dados de laboratório.
Envio com embalagem neutra está disponível mediante solicitação.
| Item | Descrição |
| Produto | Microscópio metalúrgico de inspeção de wafer GP-L600-462H com 4K Ultra HD e foco automático |
| Categoria | Microscópio metalúrgico trinocular de nível de pesquisa de laboratório, suportando interferência diferencial DIC, observação de campo claro / campo escuro / luz polarizada |
| Tecnologias principais | Sistema óptico trinocular de visualização síncrona, iluminação integrada multimodo (campo claro, campo escuro, polarizador, DIC de contraste de interferência diferencial), profissional de alta precisão metalúrgico conjunto de lentes objetivas, sensor de imagem CMOS ultra-HD 4K, módulo de foco automático de hardware, canal triplo transmissão (HDMI + USB3.0 + WIFI), sistema de medição dupla, síntese de profundidade de campo e algoritmo de costura de imagem, arquitetura aberta que apoia a integração do desenvolvimento secundário |
| Especificações principais | Ampliação visual: 50/100/200/500×; Ampliação eletrônica: 190/380/760/1900×; Portas de saída tripla: HDMI + USB3.0 + WI-FI; Resolução de captura 4K: 3840×2160; Foco automático de hardware equipado (foco manual também disponível); Modos de medição dupla: medição precisa integrada + medição de software de PC correspondente; Modos de armazenamento duplo: armazenamento em disco U + armazenamento de software de computador; Terminal de monitor suporta dimensionais medição, visualização de imagem HD, gravação de foto-vídeo, síntese de profundidade de campo; Suporte para terminais de PC medição dimensional, armazenamento de arquivos, síntese de profundidade de campo e costura de imagens; Suporte para toda a unidade integração do desenvolvimento secundário. |
| Aplicações Típicas | Análise de falha de wafer de semicondutor, inspeção metalográfica de material metálico, revestimento de filme fino observação de microestrutura, teste de pacote de semicondutores de precisão, pesquisa de laboratório de materiais avançados, observação de biomateriais médicos, detecção de microdefeitos para componentes eletrônicos |
| Fabricante | Instrumento de precisão Kunshan Gaopin Co., Ltd. |
| Localização do fabricante | Kunshan, Jiangsu, China (adjacente a Xangai) |
| Modelo | GP-L600-462H |
| Resolução | 3840×2160 |
| Pixels realmente eficazes | 8.300.000 pixels |
| Método de Focagem | foco automático |
| Formato Óptico | 1/1,8" |
| Tamanho dos pixels | 2,0 μm × 2,0 μm |
| Método de saída | HDMI + USB3.0 + WI-FI |
| Introduções funcionais detalhadas correspondentes a cada interface de saída | ① HDMI se conecta a monitores compatíveis com 4K. Firmware de processamento de imagem profissional incorporado suporta
foco automático controlado por hardware, gravação de fotos, gravação de vídeo, medição dimensional, reprodução de imagens
e
comparação de imagens, operada pelo mouse em tempo real. ② USB 3.0 se conecta ao computador, fornecido com software de processamento de imagem profissional de alta qualidade para captura de fotos, medição dimensional, fusão de profundidade de campo e costura de imagem. ③ O módulo WIFI se conecta a laptops ou dispositivos móveis; em tempo real transmissão de imagens, fotografia e armazenamento através de software correspondente. |
| Taxa de quadros | HDMI: 60 fps a 3840×2160 USB3.0: 30fps a 3840×2160; 60 fps a 1920×1080 WI-FI: 30fps a 3840×2160; 60 fps @1920×1080 |
| Síntese de profundidade de campo | Compatível com firmware HDMI no monitor e software para PC |
| Costura de imagem | Suportado apenas no lado do software para PC |
| Método de medição | Sistema de medição integrado no monitor + medição por software para PC |
| Precisão de medição | 0,002-0,005mm |
| Unidades de medição | mm / μm / mil / polegada (4 unidades comutáveis) |
| Ferramentas de medição | Comprimento, ângulo, radiano, círculo, polígono, polilinha, distância centro a centro, retângulo, anotação adicionando, detecção automática de bordas, barra de escala e muito mais |
| Método de armazenamento | Armazenamento em disco U + armazenamento de software para PC |
| Idioma de exibição | Chinês simplificado/inglês (alternável) |
| Processador | Processador de controle principal ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz |
| Sistema operacional | Firmware de medição desenvolvido de forma independente baseado no kernel Linux 3.1 |
| Nomenclatura de imagens | Nomeação automática ou manual disponível |
| Cabeça de visualização | Cabeça trinocular tipo dobradiça inclinada em 30°; faixa de ajuste interpupilar: 54-76 mm; divisão de dois feixes proporções: 100:0, 0:100 |
| Modos de observação | ★ Campo claro / Campo escuro / Luz polarizada / DIC (o hardware DIC é opcional) |
| Sistema de iluminação | Sistema de iluminação por luz descendente refletida transmitida, entrada de ampla tensão de 100-240 V, ajustável filamento centro, intensidade de luz continuamente ajustável. |
| Ficar | ① Rack refletido transmitido de dupla finalidade; mecanismo de foco coaxial grosso-fino de posição baixa.
Curso de ajuste grosseiro: 33 mm; precisão de ajuste fino: 0,001 mm. Equipado com bloqueio e limitação
dispositivos. ② Refletor de campo claro e campo escuro com parada de abertura variável, parada de campo e conjunto de centro ajustável. ③ Filtro de interferência e placa de equilíbrio de cores (luz branca) para caminho óptico da luz refletida. ④ Dispositivo de comutação de campo claro-escuro; slots para filtros de cores e acessórios polarizadores. |
| Estágio Mecânico | Estágio mecânico manual de 4 polegadas. Dimensão do palco: 230 mm × 215 mm; Curso XY: 105 mm × 105 mm. Vidro placa porta-espécime para observação transmitida e refletida. |
| Fonte de luz | Câmara de lâmpada halógena 12V 100W (luz refletida); Lâmpada halógena 12V 100W (luz transmitida). |
| Função de polarização | Soquete polarizador de 30 graus (luz refletida); Soquete de analisador giratório de 360° para luz polarizada observação. |
| Oculares | Duas oculares de campo plano grande angular PL10X/22 mm com dioptria ajustável (uma ocular com retículo escala). |
| Porta-objetivas | ★ Porta-objetivas objetiva de cinco furos com campo claro e escuro |
| Função DIC | Função de contraste de interferência diferencial; Os acessórios da placa de inserção DIC são opcionais e não incluídos em configuração padrão. |
| Interface Eletrônica | Interface de câmera de montagem C 0,5X, foco ajustável; O CTV 1X é opcional com compensação por diferença de preço. |
| Objetivos Metalúrgicos | ★ Objetivos metalúrgicos semidestrutivos de campo claro e escuro ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0,15, funcionando Distância: 9,00 mm × 1 unidade ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, Distância de trabalho: 9,00 mm × 1 unidade ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0,45, Distância de trabalho: 3,40 mm × 1 unidade ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, Distância de trabalho: 7,50 mm × 1 unidade ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, Distância de trabalho: 2,10 mm (opcional, não incluído no pacote padrão) |
| Ampliação óptica | 50X, 100X, 200X, 500X (comutável em quatro níveis) |
| Ampliação Eletrônica | Aprox. 190X, 380X, 760X, 1900X (comutável em quatro níveis); faixa de ampliação opcional: 380-3800X. |
Os microscópios GAOPIN são usados por empresas líderes, institutos de pesquisa e universidades. Nossa colaboração relacionamentos incluem:
ZTE Optoelectronics Technology Co., Ltd. - Teste de componentes optoeletrônicos e análise de falhas
Universidade Xi'an Jiaotong - Ciência avançada de materiais e observação experimental de óptica de precisão
Instituto de Óptica e Mecânica Fina de Xangai, CAS – Pesquisa óptica avançada e caracterização de componentes ópticos
Universidade de Comércio de Tianjin - Ensino de laboratório de materiais, microimagem e arquivamento de dados experimentais
Instituto de Cerâmica de Xangai, CAS - Microanálise de cerâmicas inorgânicas e materiais de novas energias
Equipamento eletromecânico Co. de Jiangsu Bigao, Ltd. - Detecção dimensional e de micro-falhas para peças usinadas com precisão
A1: Equipado com interfaces HDMI, USB3.0 e WIFI. Suporta exibição de monitor direto e PC com/sem fio conexão para detecção colaborativa.
A2: Suporta gravação de fotos e vídeos 4K ultra-HD. Os arquivos podem ser salvos em disco U formatado em FAT32 dentro de 32 GB capacidade ou armazenamento do computador. Suporta medição precisa na tela e em software de PC, com economia de dados e funções de exportação de relatório.
A3: Verifique a fonte de alimentação e o adaptador correspondente; aperte o cabo HDMI firmemente e mude o monitor para a fonte de sinal correta; reinicie o dispositivo para resolver falhas de tela preta, sem imagem e tela trêmula.
A4: Este modelo suporta modos duplos de foco automático de hardware e foco manual. Você pode ativar o foco automático para imagens rápidas ou ajuste manualmente. Trave a lente objetiva com firmeza, coloque a amostra na horizontal, limpe regularmente a poeira da lente e as impressões digitais para obter afiado imagem.
A5: Suporta conexão de PC com fio USB e sem fio WIFI. Instale software de medição oficial, desative o firewall ou programas de interceptação, reconecte o hardware e reinicie o software para reconhecimento normal.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. foi oficialmente fundada em 2011. Nossa equipe fundadora acumulou riqueza experiência na indústria de instrumentos de inspeção óptica começando em 2005. Oferecemos serviços de ciclo completo cobrindo design de produto, P&D interno, vendas globais e serviços abrangentes de manutenção pós-venda. Nosso A equipe de engenharia qualificada tem mais de dez anos de experiência no desenvolvimento de instrumentos ópticos para garantir desempenho técnico estável e qualidade de produto confiável.
GAOPIN fornece mais de cem categorias de instrumentos de teste óptico servindo clientes industriais e de laboratório em todo o mundo. Desenvolvemos soluções de microscopia personalizadas, flexíveis e econômicas para controle de qualidade industrial diversificado e projetos-análise-laboratorial.
Para compradores estrangeiros, oferecemos suporte técnico mundial responsivo, incluindo consultas on-line remotas, tutoriais práticos em vídeo e treinamento em operação de equipamentos remotos ao vivo. Nossa unidade de produção está localizada em Kunshan, Província de Jiangsu (perto de Xangai). Visitas à fábrica no local e passeios virtuais on-line são bem-vindos. Entre em contato nosso equipe de vendas para fotos de testes de amostras autênticas capturadas por este microscópio metalúrgico de inspeção de wafer com 4K Ultra-HD e foco automático para avaliar o desempenho de imagens reais.
Endereço
Edifício 2, Centro Internacional de Negócios Shuanglian, cidade de Huaqiao, cidade de Kunshan, China
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