O microscópio metalúrgico GP-L600-300C para inspeção de wafer é um microscópio metalúrgico de inspeção de wafer especialmente projetado para microestrutura de material inspeção. Equipado com sistema óptico de luz refletida de alta resolução e função de interferência diferencial DIC, gera imagens em estéreo-relevo para observar estruturas de grãos, rachaduras, inclusões e camadas de revestimento de metais, ligas, semicondutores e outros materiais. Com câmera industrial integrada, suporta captura de imagens e no monitor medição; a avaliação do tamanho dos grãos está disponível com software de suporte opcional. Amplamente aplicado em controle de qualidade, cenários de análise de falhas e pesquisa em ciência de materiais.
Este microscópio metalúrgico para inspeção de wafers é adequado para observação microscópica de microestruturas metalográficas e morfologia de superfície. Isso serve como uma ferramenta de pesquisa ideal para disciplinas de metalurgia, mineralogia e engenharia de precisão.
1. Visualização binocular mais observação eletrônica síncrona:Visualização da ocular e exibição do monitor trabalhar de forma síncrona. Os microscópios metalúrgicos comuns suportam apenas a observação ocular; acessórios extras para câmera são necessários para a saída da tela.
2. Corpo mecânico de alta precisão:Estrutura mecânica rígida com caminho óptico estável, adequado para trabalhos de semicondutores e análise de materiais. Os microscópios metalúrgicos convencionais oferecem menor precisão.
3. Saída HDMI direta:Saída de imagem em tempo real para monitor via cabo HDMI. Metalúrgica geral microscópios requerem câmeras e placas de captura separadas para saída de imagem.
4. Medição offline no monitor:A medição das dimensões pode ser concluída diretamente no monitor sem conexão com PC. Os microscópios metalúrgicos comuns dependem exclusivamente da medição por software de PC.
5. Armazenamento offline em disco U:Salve fotos e vídeos no disco U sem um computador. Tradicional os modelos devem se conectar ao PC para salvar a imagem.
6. Caminho óptico metalúrgico dedicado:Otimizado para granulação metálica, revestimento, semicondutores e inspeção metalográfica. Os microscópios digitais comuns não possuem esse caminho óptico especializado e não conseguem visualizar estruturas metalográficas.
Câmera HD integrada na caixa trinocular para visualização simultânea via ocular e monitor. Microimagem HDMI em tempo real a saída combina fluxos de trabalho de observação e gravação.
Suporta observação DIC, campo claro, campo escuro e luz polarizada. Ampliação em 4 etapas, óptica 50-500X, máx. digitais ampliação de até 1900X, fornecendo detalhes nítidos para inspeção de micro-recursos.
Os botões de foco duplo combinados com o conjunto reforçado do corpo da lente permitem um foco estável e minimizam a vibração da imagem.
Corpo de metal integrado espesso e suporte de palco com baixo centro de gravidade, mantendo desempenho estável para longa duração observação laboratorial.
Estrutura minimalista de metal rígido toda branca com layout óptico modular, adequada para laboratórios e pesquisas institutos.
Ideal para inspeção de wafers, análise metalográfica, caracterização de microestrutura de materiais, pesquisa acadêmica e trabalho de avaliação de qualidade de precisão.
Captura de foto e vídeo 1080P, medição integrada no monitor, armazenamento em disco U. As imagens digitais simplificam o arquivamento de arquivos, comparação e análise pós-experimento.
Mecânica:Construção totalmente metálica para alta rigidez e resistência à vibração. Precisão focagem grossa-fina sem folga. Estágio mecânico XY manual de alta precisão com baixo desgaste e mínimo liberação. O caminho óptico trinocular mantém o alinhamento óptico durante a comutação de ampliação.
Óptica:Objetivas metalúrgicas planas acromáticas com correção infinita e revestimento rígido antiembaçante. Iluminação com lâmpada halógena de 12V-100W refletida transmitida.
Imagem e medição:Câmera HDMI 1080P de nível industrial com excelente anti-interferência desempenho, adequado para operação em ambiente industrial. As medições são realizadas via firmware no display.
Ambiente Operacional:Temperatura de trabalho 10-35 ℃, umidade relativa 30-75% UR. Desempenho estável sob ambiente eletromagnético regular de fábrica. Evite vibrações fortes, gases corrosivos e poeira pesada.
Qualidade e Manutenção:Inspeção completa da fábrica. Não desmonte módulos ópticos. Normal a limpeza à prova de poeira prolongará a vida útil.
Semicondutores e microeletrônica (aplicação Core DIC):
Wafers de silício, fatias de litografia, chips IC, PCBs, circuitos flexíveis FPC, juntas de solda, componentes de embalagem.
Alvos de inspeção: topografia da superfície do chip, padrões de gravação de wafer, nano-riscos, juntas de solda a frio,
oxidação e deformação do pino. O contraste de interferência diferencial (DIC) destaca diferenças sutis de altura da superfície
para observação de fatias de microcircuitos na faixa de ampliação de 190-1900×.
Metallographic Metal Specimens:
Seções metalográficas de liga, aço, ferragens metálicas estampadas com precisão.
Alvos de inspeção: estrutura de grãos metálicos, análise de tratamento térmico, microfissuras superficiais, lascas de bordas, rebarbas finas,
vestígios de desgaste e impurezas materiais internas. Modos de campo claro/campo escuro/luz polarizada disponíveis para metal
observação da estrutura cristalina.
Amostras de pesquisa de laboratório: cristal, pó, fibra e filme fino:
Cristais químicos, pó metálico, fibra de carbono, fibra têxtil, filmes de revestimento óptico.
Observe a morfologia do cristal, os contornos das partículas, a delaminação do filme e as texturas do microrrevestimento; luz polarizada
identifica características de polarização do cristal.
Componentes optoeletrônicos de plástico de precisão:
Chips de LED, lentes ópticas, substratos de vidro, cola para embalagens de semicondutores.
Detecte microporos, nanoarranhões, delaminação de cola, bolhas e irregularidades sutis de superfície.
Componentes em miniatura de alta precisão:
Conectores, terminais, micromolas, pequenas peças estampadas.
Medição precisa em nível de pixel para lacunas, diâmetros de furos, diferenças de inclinação e altura de superfície; DIC visualiza
deformação sutil por crimpagem.
Laboratórios universitários e controle de qualidade de semicondutores de última geração:
Experimentos de pesquisa de materiais, inspeção de entrada de mercadorias de wafers, observação de amostras metalográficas; foto-vídeo
arquivamento.
Equipado com imagens HD nativas de 1920*1080. Adequado para observação metalográfica, inspeção básica de semicondutores e geração de relatórios laboratoriais simples; exibe claramente grãos de metal e pequenos defeitos de circuito.
Design com foco manual, adequado para amostras estáticas de laboratório e substituição de peças de baixa frequência. Focagem estável estrutura com ajuste preciso para observação detalhada de amostras estáticas.
Estágio móvel manual padrão e caminho óptico metalúrgico trinocular vertical para amostras de metal, fatias de cavacos e PCBs de tamanho médio e pequeno, suprimindo efetivamente o brilho reflexivo para inspeção metalográfica básica.
Faixa de ampliação dupla: ampliação óptica de 50-500X, ampliação digital de 190-1900X. Abrange tanto a amostra completa visão geral e inspeção de microgrãos/microdefeitos.
Função de medição integrada no dispositivo, saída HDMI em tempo real, disco U para salvar fotos de inspeção e medição dados, para fins de arquivamento laboratorial básico.
Envio com embalagem neutra está disponível mediante solicitação.
| Item | Descrição |
| Produto | Microscópio metalúrgico de inspeção de wafer GP-L600-300C |
| Categoria | Microscópio metalúrgico trinocular de grau de pesquisa de laboratório, suporta interferência diferencial DIC, observação de campo claro / campo escuro / luz polarizada |
| Tecnologias principais | Sistema óptico trinocular de visualização síncrona, iluminação integrada multimodo (campo claro, campo escuro, polarizador, DIC de contraste de interferência diferencial), alta precisão profissional metalúrgico conjunto de lentes objetivas, sensor de imagem HD CMOS, módulo de medição de precisão digital integrado, HDMI saída de vídeo em tempo real, tecnologia de armazenamento de imagem local em disco U |
| Especificações principais | Ampliação visual: 50/100/200/500×; Ampliação eletrônica: 190/380/760/1900×; Interface de saída: HDMI apenas; Resolução de captura: 1920*1080; Somente foco manual; Função integrada de medição precisa; Disco U armazenamento; O terminal monitor suporta visualização de imagens HD, captura de fotos e gravação de vídeo; Observação modos incluem interferência diferencial, campo claro, campo escuro e luz polarizada. |
| Aplicações Típicas | Análise de falha de wafer de semicondutor, teste metalográfico de material metálico, revestimento de filme fino observação de microestrutura, inspeção de pacote de semicondutores de precisão, pesquisa de laboratório de novos materiais, observação de biomateriais médicos, detecção de microdefeitos para componentes eletrônicos |
| Fabricante | Instrumento de precisão Kunshan Gaopin Co., Ltd. |
| Localização do fabricante | Kunshan, Jiangsu, China (adjacente a Xangai) |
| Modelo | GP-L600-300C |
| Resolução | 1920×1080 |
| Pixels realmente eficazes | 2 megapixels |
| Método de Focagem | Somente foco manual |
| Formato Óptico | 1/2" |
| Tamanho dos pixels | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Método de saída | HDMI |
| Introdução detalhada para interfaces de saída | ① HDMI se conecta a monitores compatíveis com 4K. Firmware de processamento de imagem profissional incorporado suporta gravação de fotos, gravação de vídeo, medição dimensional, reprodução de imagens e comparação de imagens, operadas pelo mouse em tempo real. |
| Taxa de quadros | HDMI: 60 fps a 1920*1080 |
| Síntese de profundidade de campo | / |
| Costura de imagem | / |
| Método de medição | Sistema de medição integrado no monitor |
| Precisão de medição | 0,001mm |
| Unidades de medição | mm / μm / mil / polegada (4 unidades comutáveis) |
| Ferramentas de medição | Comprimento, ângulo, radiano, círculo, polígono, polilinha, distância centro a centro, retângulo, anotação adicionando, detecção automática de bordas, barra de escala e muito mais |
| Método de armazenamento | Armazenamento em disco U |
| Idioma de exibição | Chinês simplificado/inglês (alternável) |
| Processador | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Máx. 1,3 GHz |
| Sistema operacional | Firmware de medição desenvolvido de forma independente baseado no kernel Linux 3.1 |
| Nomenclatura de imagens | Nomeação automática ou manual disponível |
| Cabeça de visualização | Cabeça trinocular tipo dobradiça inclinada em 30°; faixa de ajuste interpupilar: 54-76 mm; divisão de dois feixes proporções: 100:0, 0:100 |
| Modos de observação | ★ Campo claro / Campo escuro / Luz polarizada / DIC (o hardware DIC é opcional) |
| Sistema de iluminação | Sistema de iluminação por luz descendente refletida transmitida, entrada de ampla tensão de 100-240 V, ajustável filamento centro, intensidade de luz continuamente ajustável. |
| Ficar | ① Rack refletido transmitido de dupla finalidade; mecanismo de foco coaxial grosso-fino de posição baixa.
Curso de ajuste grosseiro: 33 mm; precisão de ajuste fino: 0,001 mm. Equipado com bloqueio e limitação
dispositivos ② Refletor de campo claro e campo escuro com parada de abertura variável, parada de campo e conjunto de centro ajustável. ③ Filtro de interferência e placa de equilíbrio de cores (luz branca) para caminho óptico da luz refletida. ④ Dispositivo de comutação de campo claro-escuro; slots para filtros de cores e acessórios polarizadores. |
| Estágio Mecânico | Estágio mecânico manual de 4 polegadas. Dimensão do palco: 230 mm × 215 mm; Curso XY: 105 mm × 105 mm. Vidro placa porta-espécime para observação transmitida e refletida. |
| Fonte de luz | Câmara de lâmpada halógena 12V 100W (luz refletida); Lâmpada halógena 12V 100W (luz transmitida). |
| Função de polarização | Soquete polarizador de 30 graus (luz refletida); Soquete de analisador giratório de 360° para luz polarizada observação. |
| Oculares | Duas oculares de campo plano grande angular PL10X/22 mm com dioptria ajustável (uma ocular com retículo escala). |
| Porta-objetivas | ★ Porta-objetivas objetiva de cinco furos com campo claro e escuro |
| Função DIC | Função de contraste de interferência diferencial; Os acessórios da placa de inserção DIC são opcionais e não incluídos em configuração padrão. |
| Interface Eletrônica | Interface de câmera de montagem C 0,5X, foco ajustável; O CTV 1X é opcional com compensação por diferença de preço. |
| Objetivos Metalúrgicos | ★ Objetivos metalúrgicos semidestrutivos de campo claro e escuro ① OLIPBD5NCA-DIC 5X/0,15, funcionando Distância: 9,00 mm × 1 unidade ② OLIPBD10NCA-DIC 10X/0,30, Distância de trabalho: 9,00 mm × 1 unidade ③ OLIPBD20NCA-DIC 20X/0,45, Distância de trabalho: 3,40 mm × 1 unidade ④ OLIPBD50NC 50X/0,55, Distância de trabalho: 7,50 mm × 1 unidade ⑤ OLIPBD100NC 100X/0,80, Distância de trabalho: 2,10 mm (opcional, não incluído no pacote padrão) |
| Ampliação óptica | 50X, 100X, 200X, 500X (comutável em quatro níveis) |
| Ampliação Eletrônica | Aprox. 190X, 380X, 760X, 1900X (comutável em quatro níveis); faixa de ampliação opcional: 380-3800X. |
Isenção de responsabilidade:Logotipos e nomes de empresas, universidades e instituições de pesquisa que aparecem em apenas este site indicam que tais entidades adquiriram ou utilizaram microscópios da marca GAOPIN. A sua aparência não será interpretado como compra deste modelo exato de produto e não implicará qualquer endosso comercial, co-branding, afiliação ou parceria de projeto conjunto com essas organizações terceirizadas.
Os microscópios GAOPIN são usados por empresas líderes, institutos de pesquisa e universidades. Nossa colaboração relacionamentos incluem:
AVIC Optronics Technology Co., Ltd. - Conector de precisão e inspeção de componentes
NIO Shanghai – Inspeção de precisão para peças automotivas e chicotes elétricos de nova energia
Instituto de Cerâmica de Xangai, CAS - Microanálise de cerâmicas inorgânicas e materiais de novas energias
Supermercado MRO Industrial ZHENGKUNHANG (Shanghai) Co., Ltd. - Aparência e verificação de microqualidade para peças de padrão industrial
Instituto de Tecnologia de Pequim - Análise de pesquisa científica para materiais militares e dispositivos optoeletrônicos
GREE Electric Appliances (Hefei) – Medição precisa de dimensões e inspeção de defeitos em peças de eletrodomésticos
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. foi oficialmente fundada em 2011. Nosso fundador iniciou a pesquisa e fabricação de equipamentos de inspeção óptica já em 2005 e acumulou abundante experiência no setor. Nós entregar serviços de ciclo completo abrangendo design de produto, P&D técnico, vendas globais e manutenção pós-venda abrangente. Nossa equipe interna de engenharia tem mais de dez anos de experiência no desenvolvimento de sistemas ópticos para garantir estabilidade desempenho técnico e qualidade confiável do produto.
GAOPIN oferece mais de cem categorias de instrumentos de inspeção óptica atendendo indústrias e laboratórios clientes em todo o mundo. Fornecemos soluções de microscopia personalizadas flexíveis e econômicas para diversas indústrias projetos de controle de qualidade e análises laboratoriais.
Para compradores estrangeiros, fornecemos suporte técnico global oportuno, incluindo consultas por vídeo on-line, vídeo-operacional- tutoriais e treinamento de habilidades remotas. Nossa fábrica está localizada em Kunshan, província de Jiangsu (perto de Xangai). Visitas à fábrica no local e passeios virtuais on-line são bem-vindos. Entre em contato com nossa equipe de vendas para obter informações autênticas imagens de teste de amostra capturadas por este microscópio metalúrgico de inspeção de wafer para avaliar desempenho de imagem real.
A1: Apenas a saída HDMI de alta definição está equipada. Não há porta USB, WIFI ou LAN. A conexão do computador não é suportado; ele funciona de forma independente com um monitor para fluxos de trabalho de operação simples.
A2: Verifique a fonte de alimentação e o adaptador correspondente; aperte o cabo HDMI firmemente; mude o monitor para corrigir a fonte do sinal HDMI; reinicie o dispositivo para resolver falhas de tela preta e sem imagem.
A3: Este é um modelo de foco manual. Ajuste lentamente o volante de foco para obter imagens nítidas. Trave a lente objetiva com firmeza, coloque amostra plana e limpe regularmente a poeira e manchas da lente para obter uma visão clara.
A4: Somente discos U formatados em FAT32 ≤32 GB são suportados. Os formatos NTFS e exFAT são incompatíveis. Reinsira, reformate ou substitua por um disco U compatível para salvar fotos e vídeos normalmente.
Endereço
Edifício 2, Centro Internacional de Negócios Shuanglian, cidade de Huaqiao, cidade de Kunshan, China
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