GP-L500-300C é um microscópio metalográfico de nível de pesquisa com uma plataforma móvel extragrande para amostras de grande tamanho. O microscópio metalúrgico de grande ampliação e alta ampliação oferece imagens HD 1080P para mostrar detalhes claros da microestrutura. A porta trinocular suporta instalação de câmera para fluxos de trabalho de análise metalográfica. É ideal para observação de metalurgia de materiais de grande porte, semicondutores inspeção, análise de fatias de PCB e cenários de controle de qualidade de laboratório industrial.
Este microscópio metalúrgico de grande ampliação e alta ampliação é adequado para observação microscópica de microestruturas metalográficas e morfologia de superfície. Isso serve como uma ferramenta de pesquisa ideal para disciplinas de metalurgia, mineralogia e engenharia de precisão.
Câmera HD integrada na caixa trinocular para visualização simultânea via ocular e monitor. Microimagem HDMI em tempo real a saída combina fluxos de trabalho de observação e gravação.
Ampliação óptica 50-800X; ampliação máxima puramente digital de até 6080X com conjunto de cinco lentes objetivas. Precisão o caminho óptico fornece detalhes nítidos para microinspeção de wafers e chips.
Os botões de foco estáveis combinados com o conjunto do corpo da lente garantem um foco suave e reduzem a vibração da imagem.
Estágio de amostra móvel de grandes dimensões emparelhado com base de metal espessa. Permanece estável para amostras de grande porte sem oscilação durante observação de longo prazo.
Estrutura rígida minimalista toda branca em estilo industrial. Adequado para oficinas de semicondutores e universidades laboratórios.
Otimizado para inspeção de chips e wafers; também amplamente aplicado para testes de semicondutores, análise metalográfica, trabalho de pesquisa de materiais e avaliação de qualidade.
Captura de foto e vídeo 1080P, medição precisa integrada no monitor, armazenamento em disco U. A imagem digital simplifica o arquivo trabalho de arquivamento, comparação de imagens e pós-análise.
Visualização binocular mais observação eletrônica síncrona:Visualização ocular e trabalho de exibição do monitor sincronicamente. Os microscópios metalúrgicos comuns suportam apenas a observação ocular; acessórios extras para câmera são necessário para saída de tela.
Estágio de tamanho grande e ampliação ultra-alta:A ampliação óptica máxima chega a 800X; máximo a ampliação eletrônica puramente digital atinge 6080X. A plataforma móvel superdimensionada acomoda amostras de grandes dimensões. Os microscópios metalúrgicos convencionais são equipados com estágios de trabalho de tamanho pequeno e oferecem menor custo eletrônico. ampliação.
Saída HDMI direta:Conecte diretamente ao monitor via cabo HDMI. Microscópios metalúrgicos gerais requerem câmeras e placas de captura separadas para saída de imagem.
Medição offline no monitor:A medição das dimensões pode ser concluída diretamente no monitor sem Conexão com PC. Os microscópios metalúrgicos comuns dependem exclusivamente da medição por software de PC.
Armazenamento offline em disco U:Salve fotos e vídeos no disco U sem um computador. Modelos tradicionais deve se conectar ao PC para salvar a imagem.
Caminho óptico metalúrgico dedicado:Otimizado para granulação metálica, revestimento e análise de materiais metalográficos. Os microscópios digitais comuns não possuem esse caminho óptico especializado e não podem visualizar estruturas metalográficas.
Mecânica:Estrutura totalmente metálica para serviços pesados para alta rigidez e desempenho antivibração. Precisão foco coaxial grosso-fino com dispositivo de travamento e limite, valor de graduação de movimento fino: 0,7 μm. Grande formato estágio XY manual com movimento suave e de baixo desgaste. O caminho óptico trinocular mantém o alinhamento óptico durante a comutação objetivos.
Óptica:Objetivas metalúrgicas plano-acromáticas com correção infinita. Lâmpada halógena refletida iluminação com brilho ajustável.
Imagem e medição:Sensor CMOS HD 1080P de 2 megapixels, saída somente HDMI. Firmware integrado a medição é executada no monitor. Pré-calibrado de fábrica; os parâmetros persistem após o desligamento; sem calibração diária necessário. Salvamento de dados somente por meio de disco U compatível. Funções de conexão ao PC, porta USB e desenvolvimento secundário NÃO são compatível com GP-L500-300C.
Qualidade e Manutenção:Calibração óptica de fábrica de todos os itens e inspeção de desempenho. Inspeção relatórios e micrografias de amostra podem ser fornecidos mediante solicitação. Não desmonte módulos ópticos. À prova de poeira normal a limpeza prolongará a vida útil.
Wafers e chips semicondutores (aplicação principal):
Wafers de silício, fatias de litografia, chips IC, tubos MOS, PCBs, circuitos flexíveis FPC, juntas de solda embaladas.
Alvos de inspeção: circuitos internos de microchip, revestimentos de wafer, defeitos de gravação, bolhas de embalagem, solda a frio
juntas, oxidação e deformação do pino.
Amostras metalográficas e ferramentas de corte de hardware:
Perfis metalográficos, ligas de aço, brocas, fresas, peças metálicas estampadas com precisão.
Alvos de inspeção: estrutura de grãos metálicos, análise metalográfica de tratamento térmico, microfissuras superficiais,
lascas de ponta, rebarbas, vestígios de desgaste e impurezas internas do material.
Amostras de Laboratório: Pó, Fibra e Filme Fino:
Pó metálico, pó químico, fibra de carbono, fibra têxtil, filmes de revestimento óptico.
Observe a morfologia das partículas, a textura da fibra, a delaminação do filme e as estruturas de microrrevestimento.
Componentes optoeletrônicos e plásticos de precisão:
Chips de LED, lentes ópticas, peças moldadas por injeção, cola para embalagens de semicondutores.
Detecte microporos, manchas superficiais, arestas, delaminação, bolhas e pequenas falhas cosméticas.
Componentes em miniatura de precisão de grande porte:
Conectores, terminais, micromolas, grandes peças estampadas, peças de grandes dimensões.
A plataforma móvel extragrande acomoda amostras grandes; medição precisa em nível de pixel para lacunas, diâmetros de furos,
diferenças de altura e dimensões lineares.
Laboratórios acadêmicos e controle de qualidade de fábrica de semicondutores:
Experimentos de pesquisa de materiais, inspeção completa de produtos recebidos e produtos acabados para semicondutores,
observação de amostras metalográficas; arquivamento de fotos/vídeos.
A grande plataforma expandida permite a observação completa de wafers, PCBs grandes e grandes fatias de metal sem amostra corte. Perfeito para inspeção de wafers semicondutores, placas de circuito e componentes de hardware grandes.
Ampliação ajustável por etapas: óptica 50x-800x; ampliação digital máxima de até 6080X (zoom digital puro). Capturas aparência geral da peça e detalhes ultrafinos, como circuitos de cavacos, grãos de metal, micro-riscos e revestimento poros. Ideal para testes de P&D de semicondutores.
O caminho de luz síncrono trinocular permite a observação simultânea através de oculares binoculares e monitor HDMI. Adequado para Discussão da equipe de P&D, dupla verificação de controle de qualidade e ensino em laboratório universitário para reduzir erros de julgamento.
Saída HDMI única com função de medição integrada no monitor. Salve fotos e vídeos em 1080P diretamente no compatível Disco U. Plug-and-play com fiação simples. Adapta-se a estações de inspeção básica em oficinas de semicondutores e material pequeno laboratórios.
Corpo antivibração integrado espesso junto com foco manual coaxial grosso-fino. Focagem suave sem mudança de imagem durante inspeção contínua de longas horas. Adequado para teste diário de entrada em massa para wafers e circuitos placas e análises laboratoriais de amostras estáticas de longo prazo.
Envio com embalagem neutra está disponível mediante solicitação.
| Item | Descrição |
| Produto | GP-L500-300C Microscópio metalográfico de grau de pesquisa |
| Categoria | Microscópio de inspeção metalúrgica trinocular de grande plataforma de nível de pesquisa industrial |
| Tecnologias principais | Sistema óptico trinocular de visualização síncrona, estágio de amostra móvel de grande área, alta potência metalúrgico conjunto de lentes objetivas, sensor de imagem HD CMOS, módulo de medição de precisão digital integrado, HDMI em tempo real vídeo saída, tecnologia de armazenamento de imagem local em disco U |
| Especificações principais | Ampliação visual: 50/100/200/500/800×; Ampliação eletrônica: 380/760/1520/3800/6080× (6080X é puro zoom digital); Interface de saída: somente HDMI; Resolução de captura: 1920*1080; Focagem manual; Integrado preciso função de medição, armazenamento em disco U; O terminal do monitor suporta visualização de imagens HD, captura de fotos e vídeo gravação. |
| Aplicações Típicas | Inspeção de microestrutura de wafer e chip semicondutor, observação de componentes eletrônicos de grande porte, metálico análise metalográfica de grãos, detecção de circuito de embalagem, inspeção de seção transversal de PCB, material de nova energia testes, pesquisa laboratorial de materiais avançados |
| Fabricante | Instrumento de precisão Kunshan Gaopin Co., Ltd. |
| Localização do fabricante | Kunshan, Jiangsu, China (adjacente a Xangai) |
| Modelo | GP-L500-300C |
| Resolução | 1920×1080 |
| Pixels realmente eficazes | 2 megapixels |
| Método de Focagem | Foco manual |
| Formato Óptico | 1/2" |
| Tamanho dos pixels | 3,75 μm × 3,75 μm |
| Método de saída | HDMI |
| Introduções funcionais detalhadas correspondentes a cada interface de saída | HDMI pode se conectar a monitores compatíveis com 4K. Firmware de processamento de imagem profissional incorporado suporta gravação de fotos, gravação de vídeo, medição dimensional, reprodução de imagens e comparação de imagens, operadas por mouse em tempo real. |
| Taxa de quadros | HDMI: 60 fps a 1920*1080 |
| Síntese de profundidade de campo | / |
| Costura de imagem | / |
| Método de medição | Sistema de medição integrado no monitor |
| Precisão de medição | 0,001mm |
| Unidades de medição | mm / μm / mil / polegada (4 unidades comutáveis) |
| Ferramentas de medição | Comprimento, ângulo, radiano, círculo, polígono, polilinha, distância centro a centro, retângulo, anotação adicionando, detecção automática de bordas, barra de escala e muito mais |
| Método de armazenamento | Armazenamento em disco U |
| Idioma de exibição | Chinês simplificado/inglês (alternável) |
| Processador | ARM Cortex-A7 Dual-Core @ Máx. 1,3 GHz |
| Sistema operacional | Firmware de medição desenvolvido de forma independente baseado no kernel Linux 3.1 |
| Nomenclatura de imagens | Nomeação automática ou manual disponível |
| Cabeça de visualização | Cabeça trinocular tipo dobradiça inclinada em 30°; faixa de ajuste interpupilar: 53 mm-75 mm |
| Modos de observação | Campo claro/iluminação oblíqua/polarização simples |
| Sistema de iluminação | Sistema de iluminação de luz incidente somente refletida, entrada de ampla tensão de 100-240V, filamento ajustável centro, intensidade de luz continuamente ajustável. |
| Ficar | ① Rack tipo tiro, mecanismo de foco coaxial grosso-fino de posição baixa, com travamento e
limitante
dispositivos; valor de graduação de movimento fino: 0,7 μm. Iluminação por luz refletida com lâmpada halógena. ② Campo claro refletor com parada de abertura variável, parada de campo e unidade de comutação de filtro de cor. ③ Amarelo, azul, verde filtros e folha de vidro fosco fornecidos para o caminho óptico da luz refletida. |
| Estágio Mecânico | ★ Estágio móvel mecânico. Dimensão do palco: 280 mm × 270 mm; Curso XY: 204 mm × 204 mm (curso de 8 polegadas). Vidro placa porta-amostras apenas para observação de luz refletida, adequada para peças de grandes dimensões. |
| Fonte de luz | Câmara de lâmpada halógena 6V 30W (somente luz refletida) |
| Função de polarização simples | Polarizador e analisador tipo push-pull instalados |
| Interface Eletrônica | Interface de câmera de foco fixo CTV 1X; CTV 0,5X é opcional com compensação de diferença de preço. |
| Oculares | Duas oculares de campo plano grande angular WF10X/22 mm com ajuste de dioptria individual |
| Porta-objetivas | ★ Porta-objetivas de cinco furos Mingchang |
| Objetivos Metalúrgicos | ★ Objetivas metalúrgicas plano-acromáticas com correção infinita ① PL L5X/0,12, Distância de trabalho: 26,1 mm × 1 unidade ② PL L10X/0,25, Distância de trabalho: 20,2 mm × 1 unidade ③ PL L20X/0,40, Distância de trabalho: 8,80 mm × 1 unidade ④ PL L50X/0,70, Distância de trabalho: 3,68 mm × 1 unidade ⑤ PL L80X/0,80, Distância de trabalho: 1,25 mm × 1 unidade |
| Ampliação óptica | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (comutável em cinco níveis) |
| Ampliação Eletrônica | Aprox. 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (comutável em cinco níveis); faixa opcional: 190-3040X. |
Os microscópios GAOPIN são usados por empresas líderes, institutos de pesquisa e universidades. Nossa colaboração relacionamentos incluem:
Universidade de Comércio de Tianjin - Ensino de laboratório de materiais, microimagem e arquivamento de dados experimentais
DOOV – Inspeção de montagem de dispositivos móveis, testes de tela e aparência de componentes
GREE Electric Appliances (Hefei) – Medição precisa de dimensões e inspeção de defeitos em peças de eletrodomésticos
Lens Technology Co., Ltd. - Detecção de micro-falhas para placas de cobertura de vidro e painéis de proteção de telefone
Jiangsu Bigao Electromechanical Equipment Co., Ltd. - Detecção dimensional e de micro-falhas para usinagem de precisão peças
Dabo Medical – Análise micromorfológica para dispositivos médicos e biomateriais do tipo implante
A1: Apenas a interface HDMI está instalada para exibição no monitor em tempo real.
A2: Suporta gravação de fotos e vídeos de alta definição 1080P. Os arquivos podem ser salvos em disco U formatado em FAT32 dentro 32 Capacidade GB. A ferramenta de medição integrada na tela suporta marcação de dimensões, economia de dados e relatório de medição exportar.
A3: Solução de problemas de falta de imagem: Verifique a fonte de alimentação, o cabo HDMI e a fonte do sinal do monitor e reinicie o dispositivo. Solução de problemas de imagem borrada: ajuste o volante de foco manual, bloqueie a lente objetiva, coloque a amostra plana e limpe a lente superfície. Falha no reconhecimento do disco U: Substitua ou reformate o disco U (deve ser FAT32 e ≤32 GB).
A4: Adequado para observação metalográfica, análise de materiais metálicos, testes de metalurgia do pó, inspeção de componentes eletrônicos de precisão, pesquisa científica e experimentos de ensino.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. foi oficialmente fundada em 2011. Nossa equipe fundadora acumulou experiência em tecnologia óptica a partir de 2005. Somos fabricantes de equipamentos de inspeção industrial, fornecendo serviços de gama completa: design óptico independente, pesquisa e desenvolvimento de produtos, vendas internacionais e longo prazo suporte pós-venda para microscópios industriais. Nossos especialistas internos em engenharia têm mais de dez anos de experiência profissional para desenvolvimento de instrumentos ópticos, garantindo desempenho técnico estável e confiabilidade consistente do produto.
A GAOPIN fornece mais de cem categorias de instrumentos ópticos para clientes em todo o mundo. Oferecemos flexibilidade, soluções de microscopia personalizadas e econômicas para satisfazer diversos testes industriais e pesquisas laboratoriais requisitos. Compradores internacionais globais podem obter suporte técnico de resposta rápida, incluindo consulta de vídeo on-line, orientação de operação passo a passo e treinamento remoto de equipamentos. Nossa fábrica está localizada em Kunshan, província de Jiangsu (perto de Xangai). Visitas no local à fábrica e tours virtuais online são bem-vindos. Entre em contato conosco para testes de amostra reais imagens capturado por este microscópio metalográfico de nível de pesquisa para avaliação da qualidade da imagem.
Endereço
Edifício 2, Centro Internacional de Negócios Shuanglian, cidade de Huaqiao, cidade de Kunshan, China
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