GP-L500-324K é um microscópio metalográfico de nível de pesquisa com 4K Ultra HD. Suporta ampliação em 5 etapas trocando de 380× a 6080×. A plataforma móvel extragrande integrada acomoda convenientemente amostras de tamanho grande. O microscópio metalúrgico de nível de pesquisa 4K Ultra HD oferece 4K imagens de ultra-alta definição com detalhes nítidos de microestrutura. A porta trinocular suporta instalação de câmera e conexão metalográfica-análise-software. É ideal para observação de metalurgia de materiais de grande porte, semicondutor inspeção, análise de fatias de PCB e trabalho de controle de qualidade em laboratório industrial.
Este microscópio metalúrgico de nível de pesquisa 4K Ultra HD é adequado para observação microscópica de microestruturas metalográficas e morfologia de superfície. Isso serve como uma ferramenta de pesquisa ideal para disciplinas de metalurgia, mineralogia e engenharia de precisão.
Câmera 4K integrada na caixa trinocular para visualização simultânea através de oculares e monitor externo. Porta dupla a saída via HDMI e Gigabit LAN transmite microimagens ultra-HD em tempo real.
Ampliação óptica 50-800×; a ampliação digital máxima atinge 6080X (zoom digital puro) com lente de cinco objetivas definido. O caminho óptico de precisão fornece detalhes nítidos para microinspeção de chips e wafers.
Os botões de foco coaxial combinados com o conjunto reforçado do corpo da lente permitem um foco estável e minimizam a vibração da imagem.
Estágio de amostra móvel extra grande emparelhado com base de metal integrada espessa. Permanece estável para amostras de grande porte sem oscilar durante a observação de longo prazo.
Estrutura de metal rígida estilo laboratório integrada e minimalista, perfeitamente adequada para oficinas de semicondutores, universidades laboratórios e instalações de controle de qualidade.
Ideal para inspeção de chips e wafers, testes de semicondutores, análise metalográfica, pesquisa de materiais, ensino acadêmico e trabalho de avaliação de qualidade.
Captura de foto e vídeo 4K, modos de medição dupla (integrado na tela + software para PC). Armazenamento duplo via disco U e computador. As funções de síntese de profundidade de campo e costura de imagem são executadas exclusivamente em software de suporte para PC. O desenvolvimento secundário é suportado pela porta LAN para arquivamento de imagens, comparação e análise avançada.
Visualização binocular mais observação eletrônica síncrona:Visualização ocular e trabalho de exibição do monitor sincronicamente. Os microscópios metalúrgicos comuns suportam apenas a observação ocular; acessórios extras para câmera são necessário para saída de tela.
Palco de tamanho grande, ampliação ultra-alta e imagem 4K:A ampliação óptica máxima atinge 800X; a ampliação eletrônica digital pura máxima atinge 6080X. A plataforma móvel superdimensionada acomoda amostras de grande dimensão com saída nativa de 4K. Os microscópios metalúrgicos convencionais adotam estágios de trabalho de tamanho pequeno com resolução mais baixa e ampliação limitada.
Interfaces de saída dupla:Porta HDMI + Gigabit-LAN. Os microscópios metalúrgicos comuns têm interface única sem porta de rede para integração do sistema.
Modos de medição dupla:Medição off-line integrada no monitor e medição por software de PC. Os microscópios metalúrgicos comuns suportam apenas medições de software no lado do PC.
Modos de armazenamento duplo:Armazenamento offline em disco U e armazenamento de software para PC, economia de dados disponível com ou sem computador conectado. Os modelos convencionais requerem conexão com PC para salvar imagens.
Desenvolvimento secundário apoiado:A porta LAN permite a integração automática do sistema. Geral microscópios metalúrgicos não suportam capacidade de desenvolvimento secundário.
Caminho óptico metalúrgico dedicado:Otimizado para granulação metálica, revestimento e análise de materiais metalográficos. Os microscópios digitais comuns não possuem esse caminho óptico especializado e não podem visualizar estruturas metalográficas.
Mecânica:Construção totalmente metálica para alta rigidez e resistência à vibração. Precisão focagem grossa-fina sem folga. Estágio XY manual de tamanho grande com baixo desgaste e folga mínima. Trinocular o caminho óptico mantém o alinhamento óptico ao mudar de objetiva.
Óptica:Objetivas metalúrgicas planas acromáticas com correção infinita e revestimento rígido antiembaçante. Iluminação com lâmpada halógena de 6V-30W com luz refletida.
Imagem e medição:Câmera CMOS industrial 4K de 8,3 megapixels. Saída dupla: HDMI + Gigabit-LAN porta, bom desempenho anti-interferência para uso em ambiente industrial. Suporta medição incorporada no monitor e medição de software de PC. Pré-calibrado de fábrica; os parâmetros persistem após o desligamento; sem calibração diária necessário. Armazenamento de caminho duplo via disco U e software para PC. Síntese de profundidade de campo e costura de imagem estão disponíveis apenas em software para PC. A interface de desenvolvimento secundário está disponível através da porta LAN.
Ambiente Operacional:Temperatura de trabalho 10-35 ℃, umidade relativa 30-75% UR. Estável sob condições normais ambiente eletromagnético de fábrica. Evite vibrações fortes, gases corrosivos e poeira pesada.
Qualidade e Manutenção:Inspeção completa da fábrica. Não desmonte módulos ópticos. Normal a limpeza à prova de poeira prolongará a vida útil.
Wafers e chips semicondutores (aplicação principal):
Wafers de silício, fatias de litografia, chips IC, tubos MOS, PCBs, circuitos flexíveis FPC, juntas de solda embaladas.
Alvos de inspeção: circuitos internos de microchip, revestimentos de wafer, defeitos de gravação, bolhas de embalagem, solda a frio
juntas, oxidação e deformação do pino.
Amostras metalográficas e ferramentas de corte de hardware:
Perfis metalográficos, ligas de aço, brocas, fresas, peças metálicas estampadas com precisão.
Alvos de inspeção: estrutura de grãos metálicos, análise metalográfica de tratamento térmico, microfissuras superficiais,
lascas de ponta, rebarbas, vestígios de desgaste e impurezas internas do material.
Amostras de Laboratório: Pó, Fibra e Filme Fino:
Pó metálico, pó químico, fibra de carbono, fibra têxtil, filmes de revestimento óptico.
Observe a morfologia das partículas, a textura da fibra, a delaminação do filme e as estruturas de microrrevestimento.
Componentes optoeletrônicos e plásticos de precisão:
Chips de LED, lentes ópticas, peças moldadas por injeção, cola para embalagens de semicondutores.
Detecte microporos, manchas superficiais, arestas, delaminação, bolhas e pequenas falhas cosméticas.
Componentes em miniatura de precisão de grande porte:
Conectores, terminais, micromolas, peças estampadas de grandes dimensões, peças de grandes dimensões.
A plataforma móvel extragrande acomoda amostras grandes; Medição precisa em nível de pixel 4K para lacunas e furos
diâmetros, diferenças de altura e dimensões lineares.
Laboratórios acadêmicos e controle de qualidade de fábrica de semicondutores:
Experimentos de pesquisa de materiais, inspeção completa de produtos recebidos e produtos acabados para semicondutores,
observação de amostras metalográficas; arquivamento de fotos/vídeos, conecte ao PC para exportar medições profissionais
Relatórios de controle de qualidade.
A grande plataforma expandida permite a observação completa de wafers, PCBs grandes e grandes fatias de metal sem corte de amostra. Perfeito para inspeção de wafer de semicondutores, placas de circuito e componentes de hardware de grande porte.
Ampliação ajustável por etapas: óptica 50x-800x; ampliação digital máxima de até 6080X (zoom digital puro). Capturas aparência geral da peça e detalhes ultrafinos, como circuitos de chips, grãos de metal, micro-riscos e poros de revestimento. Ideal para testes de P&D de semicondutores.
O caminho óptico síncrono trinocular permite a observação simultânea através de oculares binoculares e monitor HDMI. Adequado para discussão da equipe de P&D, nova verificação de controle de qualidade dupla e ensino em laboratório universitário para reduzir erros de julgamento.
Saída HDMI única com função de medição integrada no monitor. Fotos e vídeos em 4K podem ser salvos diretamente em disco U compatível. A instalação plug-and-play se adapta a estações de inspeção básicas em oficinas de semicondutores e laboratórios de pequenos materiais.
Corpo antivibração integrado espesso junto com foco manual grosso-fino. Desempenho de focagem suave sem mudança de imagem durante a inspeção contínua de longas horas. Durável para teste diário de entrada em massa para wafers e placas de circuito e análises laboratoriais de amostras estáticas de longa data.
Envio com embalagem neutra está disponível mediante solicitação.
| Item | Descrição |
| Produto | GP-L500-324K Microscópio metalográfico de nível de pesquisa com 4K Ultra HD |
| Categoria | Inspeção e medição metalúrgica trinocular 4K de grande plataforma de nível de pesquisa industrial Microscópio |
| Tecnologias principais | Sistema óptico trinocular de visualização síncrona, estágio de amostra móvel de grande área, alta potência metalúrgico conjunto de lentes objetivas, sensor de imagem CMOS ultra-HD 4K, sistema de medição dupla (integrado no monitor medição + medição de software de PC), transmissão de sinal de canal duplo HDMI + Gigabit-LAN, tecnologia de armazenamento duplo, arquitetura aberta que suporta acoplamento de desenvolvimento secundário |
| Especificações principais | Ampliação visual: 50/100/200/500/800×; Ampliação eletrônica: 380/760/1520/3800/6080× (6080X é puro zoom digital); Interfaces de saída dupla: porta HDMI + Gigabit-LAN; Resolução de captura 4K: 3840×2160; Foco manual apenas; Modos de medição dupla: medição precisa integrada + medição dedicada por software de PC; Armazenamento duplo modos: armazenamento local em disco U + armazenamento de software para PC; Terminal de monitor suporta medição dimensional, HD imagem visualização, arquivamento de fotos e arquivos; O terminal PC suporta medição dimensional e salvamento de imagens; Unidade inteira suporta integração de desenvolvimento secundário via LAN. |
| Aplicações Típicas | Inspeção de microestrutura de wafer e chip de semicondutores, observação de componentes eletrônicos de grande porte, metálico análise metalográfica da estrutura de grãos, detecção de circuito de embalagem, inspeção de seção transversal de PCB, testes de qualidade de materiais de nova energia, pesquisa em laboratório de materiais avançados de universidade |
| Fabricante | Instrumento de precisão Kunshan Gaopin Co., Ltd. |
| Localização do fabricante | Kunshan, Jiangsu, China (adjacente a Xangai) |
| Modelo | GP-L500-324K |
| Resolução | 3840×2160 |
| Pixels realmente eficazes | 8,3 megapixels |
| Método de Focagem | Somente foco manual |
| Formato Óptico | 1/1,7" |
| Tamanho dos pixels | 1,85 μm × 1,85 μm |
| Método de saída | Porta Ethernet LAN HDMI + Gigabit |
| Introduções funcionais detalhadas correspondentes a cada interface de saída | ① HDMI se conecta a monitores compatíveis com 4K. Firmware de processamento de imagem profissional incorporado suporta
gravação de fotos, gravação de vídeo, medição dimensional, reprodução de imagens e comparação de imagens, operadas
por
mouse em tempo real. ② A porta LAN Gigabit conecta-se a roteadores, switches ou computadores para imagem de rede transmissão. Computadores dentro do mesmo segmento de rede podem receber vídeo em tempo real e acionar captura através de software correspondente. |
| Taxa de quadros | HDMI: 60 fps a 3840×2160 LAN Gigabit: 20 fps a 1920×1080 |
| Síntese de profundidade de campo | / |
| Costura de imagem | / |
| Método de medição | Sistema de medição integrado no monitor + medição por software para PC |
| Precisão de medição | 0,001mm |
| Unidades de medição | mm / μm / mil / polegada (4 unidades comutáveis) |
| Ferramentas de medição | Comprimento, ângulo, radiano, círculo, polígono, polilinha, distância centro a centro, retângulo, anotação adicionando, detecção automática de bordas, barra de escala e muito mais |
| Método de armazenamento | Armazenamento em disco U + armazenamento de software para PC |
| Idioma de exibição | Chinês simplificado/inglês (alternável) |
| Processador | Processador de controle principal ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz |
| Sistema operacional | Firmware de medição desenvolvido de forma independente baseado no kernel Linux 3.1 |
| Nomenclatura de imagens | Nomeação automática ou manual disponível |
| Cabeça de visualização | Cabeça trinocular tipo dobradiça inclinada em 30°; faixa de ajuste interpupilar: 53 mm-75 mm |
| Modos de observação | Campo claro/iluminação oblíqua/polarização simples |
| Sistema de iluminação | Sistema de iluminação de luz incidente somente refletida, entrada de ampla tensão de 100-240V, filamento ajustável centro, intensidade de luz continuamente ajustável. |
| Ficar | ① Rack tipo tiro, mecanismo de foco coaxial grosso-fino de posição baixa, com travamento e
limitante
dispositivos; valor de graduação de movimento fino: 0,7 μm. Iluminação por luz refletida com lâmpada halógena. ② Campo claro refletor com parada de abertura variável, parada de campo e unidade de comutação de filtro de cor. ③ Amarelo, azul, verde filtros e folha de vidro fosco fornecidos para o caminho óptico da luz refletida. |
| Estágio Mecânico | ★ Estágio móvel mecânico. Dimensão do palco: 280 mm × 270 mm; Curso XY: 204 mm × 204 mm (curso de 8 polegadas). Vidro placa porta-amostras apenas para observação de luz refletida, adequada para peças de grandes dimensões. |
| Fonte de luz | Câmara de lâmpada halógena 6V 30W (somente luz refletida) |
| Função de polarização simples | Polarizador e analisador tipo push-pull instalados |
| Interface Eletrônica | Interface de câmera de foco fixo CTV 1X; CTV 0,5X é opcional com compensação de diferença de preço. |
| Oculares | Duas oculares de campo plano grande angular WF10X/22 mm com ajuste de dioptria individual |
| Porta-objetivas | ★ Porta-objetivas de cinco furos Mingchang |
| Objetivos Metalúrgicos | ★ Objetivas metalúrgicas plano-acromáticas com correção infinita ① PL L5X/0,12, Distância de trabalho: 26,1 mm × 1 unidade ② PL L10X/0,25, Distância de trabalho: 20,2 mm × 1 unidade ③ PL L20X/0,40, Distância de trabalho: 8,80 mm × 1 unidade ④ PL L50X/0,70, Distância de trabalho: 3,68 mm × 1 unidade ⑤ PL L80X/0,80, Distância de trabalho: 1,25 mm × 1 unidade |
| Ampliação óptica | 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (comutável em cinco níveis) |
| Ampliação Eletrônica | Aprox. 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (comutável em cinco níveis); faixa opcional: 190-3040X. |
Os microscópios GAOPIN são usados por empresas líderes, institutos de pesquisa e universidades. Nossa colaboração relacionamentos incluem:
Universidade de Tsinghua – Ensino, imagens de laboratório e arquivamento de dados experimentais
Universidade Fudan - Micro-nano-materiais e pesquisa biomédica de observação microscópica
Dabo Medical – Análise micromorfológica para dispositivos médicos e biomateriais do tipo implante
Universidade de Comércio de Tianjin - Ensino de laboratório de materiais, microimagem e arquivamento de dados experimentais
Universidade Xi'an Jiaotong - Ciência avançada de materiais e observação experimental de óptica de precisão
GREE Electric Appliances (Hefei) – Medição precisa de dimensões e inspeção de defeitos em peças de eletrodomésticos
A1: Equipado com porta HDMI + Gigabit-LAN. Ele suporta exibição direta no monitor e conexão de rede com o computador.
A2: Suporta gravação de fotos e vídeos 4K ultra-HD. Os arquivos podem ser salvos em disco U formatado em FAT32 dentro de 32 GB capacidade. Suporta medição na tela e por software de PC, com funções de economia de dados e exportação de relatórios.
A3: Solução de problemas de falta de imagem: Verifique a fonte de alimentação, o cabo HDMI e a fonte do sinal do monitor e reinicie o dispositivo. Solução de problemas de imagem borrada: Ajuste o volante de foco manual, coloque a amostra plana e limpe a superfície da lente. Falha de rede solução de problemas: coloque o PC e o dispositivo no mesmo segmento IP, desligue o firewall e reconecte o cabo de rede. Erro no disco U solução de problemas: Substitua ou reformate o disco U (deve ser FAT32 e ≤32 GB).
A4: O desenvolvimento secundário é suportado pela porta LAN. Amplamente utilizado para análise metalográfica, material metálico testes, metalurgia do pó, inspeção de semicondutores, inspeção de componentes de precisão, pesquisa científica e experiências de ensino.
Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. foi formalmente fundada em 2011. Nossa equipe de liderança fundadora acumulou experiência na indústria de equipamentos de inspeção óptica a partir de 2005. Fornecemos soluções ponta a ponta cobrindo design de sistema óptico, P&D independente, distribuição mundial de produtos e manutenção pós-venda de longo prazo serviços. Nossa equipe dedicada de engenharia possui mais de dez anos de experiência prática em desenvolvimento em instrumentos ópticos, garantindo tecnologia estável e comprovada e qualidade confiável.
A GAOPIN mantém uma ampla linha de produtos que consiste em mais de 100 instrumentos de inspeção óptica diferentes, atendendo clientes industriais e de laboratório em mercados internacionais. Nós nos concentramos fortemente no desenvolvimento de soluções personalizadas, soluções de microscopia econômicas para satisfazer demandas exclusivas de inspeção de diferentes setores.
Para parceiros estrangeiros, oferecemos assistência técnica global rápida, incluindo videoconferências on-line, orientação operacional passo a passo em vídeo e treinamento de usuário remoto ao vivo. Nossa base de fabricação está localizada em Kunshan, Jiangsu Província, com ligações de transporte convenientes para Xangai. Inspeções de fábrica no local e passeios virtuais on-line são bem-vindo. Entre em contato com nossa equipe de vendas para obter fotos de testes de amostras autênticas capturadas por este metalográfico de grau de pesquisa microscópio com 4K Ultra HD para avaliar o desempenho de imagens reais.
Endereço
Edifício 2, Centro Internacional de Negócios Shuanglian, cidade de Huaqiao, cidade de Kunshan, China
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