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Microscópio metalúrgico de nível de pesquisa com foco automático 4K
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Microscópio metalúrgico de nível de pesquisa com foco automático 4K

Model:GP-L500-462H
GAOPIN é um fabricante profissional e fornecedor atacadista de microscópio metalúrgico de grau de pesquisa com foco automático 4K de grau de pesquisa na China. Nós nos concentramos em P&D, produção e fornecimento personalizado de equipamentos microscópicos analíticos, incluindo microscópios metalúrgicos de alta ampliação para compradores industriais globais. O microscópio metalúrgico GP-L500-462H está equipado com uma grande plataforma móvel, imagem 4K ultra-HD, foco automático de hardware e síntese de profundidade de campo funções. Ele oferece desempenho de visualização nítido e plano de alta ampliação e melhora muito a eficiência para observação metalográfica e análise de defeitos. Apresentando artesanato maduro e desempenho estável, este modelo suporta aquisição em massa, personalização de configuração e fornecimento único, atendendo totalmente à análise profissional e requisitos de inspeção industrial de grandes lotes.

Microscópio metalográfico de nível de pesquisa com microscópio metalúrgico 4K Ultra HD e autofoco de grande estágio 4K. O microscópio metalúrgico de nível de pesquisa com foco automático 4K adota Ajuste de ampliação em 5 etapas, com ampliação variando de 380× a 6080×. A plataforma móvel extragrande pode segure amostras de grande porte. Imagens ultra nítidas em 4K oferecem detalhes de microestrutura nítidos e delicados. A porta trinocular pode ser conectado a câmeras e software de análise metalográfica, adequado para observação de metais grandes, semicondutores inspeção, análise de fatias de PCB, pesquisa científica e controle de qualidade.

High Magnification Metallurgical Microscope with 4K Ultra HD & AutofocusHigh Magnification Metallurgical Microscope with 4K Ultra HD & Autofocus

Escopo de aplicação

Este instrumento é adequado para observação microscópica de microestruturas metalográficas e morfologia de superfície. Isso serve como uma ferramenta de pesquisa ideal para disciplinas de metalurgia, mineralogia e engenharia de precisão.

Vantagens exclusivas de design

Imagem CCD síncrona 4K integrada

Câmera 4K integrada na caixa trinocular para visualização simultânea através de oculares e monitor externo. Multiportas saída via HDMI, USB3.0 e WIFI transmitem microimagens ultra-HD em tempo real.

Sistema óptico HD de ultra-alta ampliação

Ampliação óptica 50-800×; a ampliação máxima puramente digital atinge 6080X com conjunto de cinco lentes objetivas. Precisão o caminho óptico fornece detalhes nítidos para microinspeção de chips e wafers.

Sistema automático de foco de precisão

O módulo de foco automático de hardware integrado permite um foco suave e sem vibração e aumenta a eficiência para amostras em massa testes; o modo de foco manual também está disponível.

Estágio de amostra superdimensionado e base de metal resistente

Estágio de amostra móvel extra grande emparelhado com base de metal integrada espessa. Permanece estável para amostras de grande porte sem oscilar durante a observação de longo prazo.

Corpo profissional totalmente branco de nível de pesquisa

Estrutura de metal rígida estilo laboratório integrada e minimalista, perfeitamente adequada para oficinas de semicondutores, universidades laboratórios e instalações de controle de qualidade.

Ampla gama de aplicações profissionais

Ideal para inspeção de chips e wafers; também amplamente aplicado para testes de semicondutores, análise metalográfica, trabalho de pesquisa de materiais e avaliação de qualidade.

Observação, medição e processamento de imagens tudo-em-um

Suporta gravação de fotos e vídeos em 4K, modos de medição dupla (integrado na tela + software para PC). Armazenamento duplo via Disco U & computador. A síntese de profundidade de campo funciona tanto no monitor quanto no software de PC; a função de costura de imagem está disponível apenas em Software para PC. O desenvolvimento secundário é suportado para arquivamento de imagens, comparação e análise avançada.

Diferenças dos microscópios metalúrgicos convencionais

Estágio da amostra:GP-L500-462H adota estágio móvel de grande porte para chips/wafers de grande formato com ampla faixa de viagens. Os microscópios metalúrgicos comuns são equipados com platina de tamanho pequeno apenas para amostras pequenas e requerem reposicionamento frequente da amostra.

Faixa de ampliação:Alta ampliação de cinco velocidades de 380-6080X, proporcionando detalhes nítidos para pequenos inspeção de circuito de chip. Os microscópios metalúrgicos comuns têm menos engrenagens de ampliação e valores máximos mais baixos. ampliação, resultando em imagens borradas sob alta potência.

Imagem e medição:Câmera nativa 4K de nível de pesquisa, medição integrada no monitor, função de armazenamento de foto-vídeo. Microscópios metalúrgicos comuns adotam câmera 2K de baixa definição sem integração medição, o software para PC é obrigatório para o trabalho de análise.

Escopo de aplicação:Otimizado para wafers, semicondutores e peças eletrônicas de grande precisão inspeção. Os microscópios metalúrgicos comuns são adequados apenas para pequenas fatias de metal e apresentam baixo desempenho para grandes fatias. espécimes de chips.

Evidência e confiabilidade no local (testes em primeira mão)

Mecânica:Construção totalmente metálica para alta rigidez e resistência à vibração. Foco automático de hardware módulo equipado. Focagem grossa e fina de precisão sem folga. Estágio XY manual de tamanho grande com baixo desgaste e folga mínima. O caminho óptico trinocular mantém o alinhamento óptico ao mudar de objetiva.

Óptica:Objetivas metalúrgicas planas acromáticas com correção infinita e revestimento rígido antiembaçante. Iluminação com lâmpada halógena de 6V-30W com luz refletida.

Imagem e medição:Câmera CMOS de nível industrial 4K de 8,3 megapixels. Interfaces de múltiplas saídas: HDMI + USB3.0 + WIFI, apresentando excelente desempenho anti-interferência para aplicações em ambientes industriais. Suporta medição incorporada na tela e medição baseada em software de PC. Armazenamento de caminho duplo: unidade flash USB e software para PC. A função de empilhamento de profundidade de campo está disponível na tela e por meio de software para PC; a costura da imagem A função é suportada apenas por software para PC. A interface de desenvolvimento secundário é acessível via USB3.0 / WIFI.

Ambiente Operacional:Temperatura de trabalho 10-35 ℃, umidade relativa 30-75% UR. Estável sob condições normais ambiente eletromagnético de fábrica. Evite vibrações fortes, gases corrosivos e poeira pesada. Mantenha o módulo WIFI longe de fontes fortes de interferência de sinal.

Qualidade e Manutenção:Inspeção completa da fábrica. Não desmonte módulos ópticos ou módulo de foco automático. A limpeza regular à prova de poeira prolongará a vida útil.

Tarefas de inspeção adequadas para ampliação de 380-6080×

Wafers e chips semicondutores (aplicação principal):
Wafers de silício, fatias de litografia, chips IC, tubos MOS, PCBs, circuitos flexíveis FPC, juntas de solda embaladas.
Alvos de inspeção: circuitos internos de microchip, revestimentos de wafer, defeitos de gravação, bolhas de embalagem, solda a frio juntas, oxidação e deformação do pino.

Amostras metalográficas e componentes de corte de metal:
Perfis metalográficos, ligas de aço, peças metálicas estampadas com precisão.
Alvos de inspeção: estrutura de grãos metálicos, análise metalográfica de tratamento térmico, microfissuras superficiais, lascas de ponta, rebarbas, vestígios de desgaste e impurezas internas do material.

Amostras de Laboratório: Pó, Fibra e Filme Fino:
Pó metálico, pó químico, fibra de carbono, fibra têxtil, filmes de revestimento óptico.
Observe a morfologia das partículas, a textura da fibra, a delaminação do filme e as estruturas de microrrevestimento.

Componentes plásticos optoeletrônicos e de precisão:
Chips de LED, lentes ópticas, peças moldadas por injeção, cola para embalagens de semicondutores.
Detecte microporos, manchas superficiais, arestas, delaminação, bolhas e pequenas falhas cosméticas.

Componentes em miniatura de precisão de grande porte:
Conectores, terminais, micromolas, peças estampadas de grandes dimensões, peças de grandes dimensões.
A plataforma móvel extragrande acomoda amostras grandes; Medição precisa em nível de pixel 4K para lacunas e furos diâmetros, diferenças de altura e dimensões lineares.

Laboratórios acadêmicos e controle de qualidade de fábrica de semicondutores:
Experimentos de pesquisa de materiais, inspeção completa de produtos recebidos e produtos acabados para semicondutores, observação de amostras metalográficas; arquivamento de foto/vídeo, conecte ao PC para exportar medição profissional QC relatórios.

Como selecionar este modelo

Selecione a resolução de acordo com os requisitos de clareza

Esta unidade possui imagens nativas de 3840*2160 4K. É adequado para inspeção precisa de semicondutores, PCBs e fatias de material, bem como exportação de relatórios de teste, revelando claramente pequenas texturas e microdefeitos.

Selecione o modo de focagem de acordo com a frequência de operação

Foco automático de hardware equipado. Adapta-se à inspeção de produção em massa e à substituição frequente de amostras. Alcança rápido focando após o movimento da amostra sem ajuste manual repetido.

Selecione a plataforma e o caminho óptico de acordo com as amostras de teste

O grande palco móvel e o caminho óptico metalúrgico trinocular vertical são projetados para wafers de grande porte, tamanho real PCB e amostras de metal, suprimindo efetivamente o brilho reflexivo.

Selecione a ampliação de acordo com o tamanho da amostra

Faixa de ampliação dupla: ampliação óptica de 50-800X, ampliação digital de 380-6080X. Cobre ambos amostra geral observação e inspeção de microgrãos/microdefeitos.

Selecione funções de transmissão, medição e armazenamento de acordo com as demandas de trabalho

Suporta medição integrada no dispositivo e medição de software de PC. Equipado com saída HDMI, USB3.0 e WIFI portos. Fotos, vídeos e dados de medição podem ser salvos via disco U ou computador. Desenvolvimento secundário apoiado para integração da linha de produção e rastreabilidade de dados de laboratório.

Opções de personalização

Envio com embalagem neutra está disponível mediante solicitação.

Visão geral da entidade do produto

Item Descrição
Produto GP-L500-462H Microscópio metalográfico de nível de pesquisa com 4K Ultra HD e foco automático
Categoria Inspeção e medição metalúrgica de grande plataforma com foco automático 4K de nível de pesquisa industrial Microscópio
Tecnologias principais Sistema óptico trinocular de visualização síncrona, estágio de amostra móvel de grande área, alta potência metalúrgico conjunto de lentes objetivas, sensor de imagem CMOS ultra-HD 4K, módulo de foco automático de hardware, canal triplo transmissão (HDMI + USB3.0 + WIFI), sistema de medição dupla, síntese de profundidade de campo e algoritmo de costura de imagem, arquitetura aberta apoiando o desenvolvimento secundário
Especificações principais Ampliação visual: 50/100/200/500/800×; Ampliação eletrônica: 380/760/1520/3800/6080× (6080X é puro zoom digital); Portas de saída tripla: HDMI + USB3.0 + WIFI; Resolução de captura 4K: 3840×2160; Hardware equipado com foco automático; Modos de medição dupla: medição precisa integrada + software de PC dedicado medição; Modos de armazenamento duplo: armazenamento local em disco U + armazenamento de software para PC; Terminal de monitor suporta dimensionais medição, visualização de imagem HD, gravação de foto-vídeo, síntese de profundidade de campo; Suporte para terminais de PC medição dimensional, armazenamento de arquivos, síntese de profundidade de campo e costura de imagens; Suporte para toda a unidade integração do desenvolvimento secundário.
Aplicações Típicas Inspeção de microestrutura de wafer e chip de semicondutores, observação de componentes eletrônicos de grande porte, metálico análise metalográfica da estrutura de grãos, detecção de circuito de embalagem, inspeção de seção transversal de PCB, análise de falha de componentes eletrônicos de precisão, testes de qualidade de materiais de nova energia, pesquisa em laboratório de materiais avançados de universidade
Fabricante Instrumento de precisão Kunshan Gaopin Co., Ltd.
Localização do fabricante Kunshan, Jiangsu, China (adjacente a Xangai)

Especificações Técnicas

Modelo GP-L500-462H
Resolução 3840×2160
Pixels realmente eficazes 8,3 megapixels
Método de Focagem foco automático
Formato Óptico 1/1,8"
Tamanho dos pixels 2,0 μm × 2,0 μm
Método de saída HDMI + USB3.0 + WI-FI
Introduções funcionais detalhadas correspondentes a cada interface de saída ① HDMI se conecta a monitores compatíveis com 4K. Firmware de processamento de imagem profissional incorporado suporta foco automático controlado por hardware, gravação de fotos, gravação de vídeo, medição dimensional, reprodução de imagens e comparação de imagens, operada pelo mouse em tempo real.
② USB 3.0 se conecta ao computador, fornecido com software de processamento de imagem profissional de alta qualidade para captura de fotos, medição dimensional, fusão de profundidade de campo e costura de imagem.
③ O módulo WIFI se conecta a laptops ou dispositivos móveis; em tempo real transmissão de imagens, fotografia e armazenamento através de software correspondente.
Taxa de quadros HDMI: 60 fps a 3840×2160
USB3.0: 30fps a 3840×2160; 60 fps a 1920×1080
WI-FI: 30fps a 3840×2160; 60 fps @1920×1080
Síntese de profundidade de campo Compatível com firmware HDMI no monitor e software para PC
Costura de imagem Suportado apenas no lado do software para PC
Método de medição Sistema de medição integrado no monitor + medição por software para PC
Precisão de medição 0,002-0,005mm
Unidades de medição mm / μm / mil / polegada (4 unidades comutáveis)
Ferramentas de medição Comprimento, ângulo, radiano, círculo, polígono, polilinha, distância centro a centro, retângulo, anotação adicionando, detecção automática de bordas, barra de escala e muito mais
Método de armazenamento Armazenamento em disco U + armazenamento de software para PC
Idioma de exibição Chinês simplificado/inglês (alternável)
Processador Processador de controle principal ARM Cortex-A17 Quad-Core @ Max 1,4 GHz
Sistema operacional Firmware de medição desenvolvido de forma independente baseado no kernel Linux 3.1
Nomenclatura de imagens Nomeação automática ou manual disponível
Cabeça de visualização Cabeça trinocular tipo dobradiça inclinada em 30°; faixa de ajuste interpupilar: 53 mm-75 mm
Modos de observação Campo claro/iluminação oblíqua/polarização simples
Sistema de iluminação Sistema de iluminação de luz incidente somente refletida, entrada de ampla tensão de 100-240V, filamento ajustável centro, intensidade de luz continuamente ajustável.
Ficar ① Rack tipo tiro, mecanismo de foco coaxial grosso-fino de posição baixa, com travamento e limitante dispositivos; valor de graduação de movimento fino: 0,7 μm. Iluminação por luz refletida com lâmpada halógena.
② Campo claro refletor com parada de abertura variável, parada de campo e unidade de comutação de filtro de cor.
③ Amarelo, azul, verde filtros e folha de vidro fosco fornecidos para o caminho óptico da luz refletida.
Estágio Mecânico ★ Estágio móvel mecânico. Dimensão do palco: 280 mm × 270 mm; Curso XY: 204 mm × 204 mm (curso de 8 polegadas). Vidro placa porta-amostras apenas para observação de luz refletida, adequada para peças de grandes dimensões.
Fonte de luz Câmara de lâmpada halógena 6V 30W (somente luz refletida)
Polarização simples Polarizador pull-push e polarizador
Interface Eletrônica Interface de câmera de foco fixo CTV 1X; CTV 0,5X é opcional com compensação de diferença de preço.
Oculares Duas oculares de campo plano grande angular WF10X/22 mm com ajuste de dioptria individual
Porta-objetivas ★ Porta-objetivas de cinco furos Mingchang
Objetivos Metalúrgicos ★ Objetivas metalúrgicas plano-acromáticas com correção infinita
① PL L5X/0,12, Distância de trabalho: 26,1 mm × 1 unidade
② PL L10X/0,25, Distância de trabalho: 20,2 mm × 1 unidade
③ PL L20X/0,40, Distância de trabalho: 8,80 mm × 1 unidade
④ PL L50X/0,70, Distância de trabalho: 3,68 mm × 1 unidade
⑤ PL L80X/0,80, Distância de trabalho: 1,25 mm × 1 unidade
Ampliação óptica 50X, 100X, 200X, 500X, 800X (comutável em cinco níveis)
Ampliação Eletrônica Aprox. 380X, 760X, 1520X, 3800X, 6080X (comutável em cinco níveis); faixa opcional: 190-3040X.

Parceiros e clientes autorizados

Authoritative Partners & Clients

Os microscópios GAOPIN são usados ​​por empresas líderes, institutos de pesquisa e universidades. Nossa colaboração relacionamentos incluem:

Instituto de Cerâmica de Xangai, CAS – Microanálise de cerâmicas inorgânicas e materiais de novas energias

Instituto de Pesquisa de Engenharia Física e Química da Indústria Nuclear - Observação de micromorfologia e análise de componentes de precisão para materiais especiais

Instituto de Óptica e Mecânica Fina de Xangai, CAS – Pesquisa óptica avançada e componente óptico caracterização

Universidade de Tsinghua – Ensino, imagens de laboratório e arquivamento de dados experimentais

Instituto de Tecnologia de Pequim - Análise de pesquisa científica para materiais militares e dispositivos optoeletrônicos

DOOV – Inspeção de montagem de dispositivos móveis, testes de tela e aparência de componentes

Perguntas frequentes

Q1: Configuração da interface e método de conexão?

A1: Equipado com interfaces HDMI, USB3.0 e WIFI. Suporta exibição de monitor direto e PC com/sem fio conexão.

Q2: Quais são as funções de imagem, armazenamento e medição?

A2: Suporta gravação de fotos e vídeos 4K ultra-HD. Os arquivos podem ser salvos em disco U formatado em FAT32 dentro de 32 GB capacidade ou armazenamento do computador. Suporta medição de precisão na tela e em software de PC, com economia de dados e funções de exportação de relatório.

Q3: Vantagens funcionais e cenários de aplicação?

A3: Ele suporta foco automático de hardware, síntese de profundidade de campo, costura de imagem no lado do PC e desenvolvimento secundário. Amplamente aplicado para análise metalográfica, inspeção de semicondutores, inspeção de componentes de precisão, pesquisa científica, ensino e detecção de precisão industrial de ponta.

Q4: Como solucionar falhas comuns?

A4: Solução de problemas de falta de imagem: Verifique a fonte de alimentação, o cabo HDMI e a fonte do sinal do monitor e reinicie o dispositivo. Solução de problemas de imagem borrada: Ajuste o volante de foco manual, coloque a amostra plana e limpe a superfície da lente. Falha de rede solução de problemas: coloque o PC e o dispositivo no mesmo segmento IP, desligue o firewall e reconecte o cabo de rede. Erro no disco U solução de problemas: Substitua ou reformate o disco U (deve ser FAT32 e ≤32 GB).

Sobre GAOPIN

Kunshan Gaopin Precision Instrument Co., Ltd. foi oficialmente constituída em 2011. Nossos membros fundadores acumularam know-how prático em instrumentos ópticos a partir de 2005. Oferecemos suporte de ciclo completo, abrangendo design óptico personalizado, P&D interno, vendas internacionais e serviços abrangentes de manutenção pós-venda. Nosso equipe de engenharia qualificada possui mais de dez anos de experiência em desenvolvimento de microscopia, garantindo desempenho técnico estável e confiabilidade consistente do produto.

GAOPIN fornece mais de 100 categorias de instrumentos de teste óptico, atendendo clientes industriais e de laboratório ao redor do globo. Nós nos concentramos em fornecer soluções de inspeção de microscopia personalizadas, flexíveis e econômicas para satisfazer diversos requisitos de teste.

Para compradores estrangeiros, oferecemos suporte técnico mundial responsivo, incluindo consultas on-line remotas, tutoriais práticos em vídeo e treinamento em operação de equipamentos remotos ao vivo. Nossa unidade de produção está localizada em Kunshan, Província de Jiangsu, com acesso conveniente de transporte a Xangai. Visitas às fábricas no local e tours virtuais on-line são bem-vindo. Entre em contato com nossa equipe de vendas para obter fotos de testes de amostras autênticas capturadas por este grau de pesquisa microscópio metalográfico com 4K Ultra HD e foco automático para avaliar o desempenho de imagens reais.

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